Gebraucht HITACHI S-3400N Type II #9274230 zu verkaufen

HITACHI S-3400N Type II ist ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das von HITACHI High Technologies Corporation entwickelt wurde. Dieses Instrument und seine früheren Vorgänger wurden verwendet, um forschungstechnische Bilder in den Bereichen Nanotechnologie, Halbleiterherstellung und Materialwissenschaft zu erzeugen. Das System wurde mit einer Festkörperelektronenquelle entwickelt, die eine Reihe von Emissionsmodi bereitstellt, die auf den Betrieb bei niedrigen und hohen Stromstärken abgestimmt werden können. Der rückgestreute Elektronendetektor (BSE) kann auch für hochauflösende Bilder bei niedrigem Stromstand ausgelegt sein. Das System nutzt auch eine ständig verbesserte Palette von Funktionen und Zubehör, wie ein Energiefilter, der den Kontrast und die Auflösung von Bildern verbessert und gleichzeitig Ergebnisse über eine breite Palette von Vergrößerungen bis zu einem beeindruckenden 20000x liefert. S-3400N Typ II hat ein sehr robustes und zuverlässiges Design und eignet sich für eine Reihe von Anwendungen sowohl für die Forschung als auch für den kommerziellen Einsatz, einschließlich der Analyse von Oberflächen, Proben und verwandten Materialien. Sein Feldemissionskanone Elektronenstrahl ist in der Lage Niederspannungsstrahlen bis zu 3 kV zu liefern, die Submikron Auflösung Bilder ermöglicht. Die Bildauflösung wird durch eine nicht-koplanare Abtastlinse ergänzt, die sicherstellt, dass eine Reihe von Probengeometrien abgetastet werden können, ohne dabei Artefakte einzuführen oder die Probe zu beschädigen. Das Instrument verfügt außerdem über eine automatisierte Kammer zur Verwaltung der Probenumgebung. Dazu können Gasstrom und Druck gehören, so dass mit leitfähigen und nicht leitfähigen Proben gearbeitet werden kann. Die Kammer verfügt außerdem über eine einstellbare Kühlvorrichtung, die präzise Probentemperaturen für eine verbesserte Leistung ermöglicht. Kurz gesagt, HITACHI S-3400N Type II ist ein fortschrittliches und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop. Mit seinem breiten Spektrum an Funktionen und Zubehör ist dieses Instrument in der Lage, Bilder mit höchster Auflösung bereitzustellen, sodass Forscher und Techniker High-End-Analysen mit optimaler Leistung durchführen können. Darüber hinaus ist das System sehr robust und zuverlässig und eignet sich daher besser für längerfristige Anwendungen.