Gebraucht HITACHI S-3400N Type II #9328867 zu verkaufen

HITACHI S-3400N Type II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das mit fortschrittlicher Technologie entwickelt wurde, um eine hochpräzise Bildgebung und Analyse durchzuführen. Es ist ideal für eine Vielzahl von Bereichen, wie Lebens- und Materialwissenschaften, sowie Mikro- und Nanoelektronik. Dieses SEM ist in der Lage, detaillierte Bilder mit 84 nm Auflösung zu erzeugen. Das Instrument hat eine doppelte Beschleunigungsspannung, die es seinen Benutzern ermöglicht, Bildgebung und Analyse mit zwei verschiedenen Vergrößerungen durchzuführen. S-3400N Typ II weist Temperaturkammern zur Bildgebung und Analyse von wärmeempfindlichen Proben auf. Es kann auf Temperaturen zwischen 5 ° C und 350 ° C arbeiten, was es zu einem idealen Werkzeug zur Analyse von Halbleitersubstraten zu Nanostrukturmaterialien macht. Das Beschleunigerlinsen-Design basiert auf dem Cloverleaf-Design, das es dem Benutzer ermöglicht, eine Auflösung von bis zu 0,6 nm abzubilden und zu analysieren. Dieses Werkzeug zeigt eine niedrige Vakuumansichtenfeldemissionselektronpistole für die hohe Kontrastbildaufbereitung mit einer niedrigen Arbeitsentfernung und Geräuschverwerfung. HITACHI S-3400N Type II verfügt über einen energiedispersiven Röntgendetektor mit einem 256-Kanal-EDX-System zur Elementaranalyse. Mit seiner geringen Vakuumfähigkeit ist das Instrument in der Lage, sowohl nichtleitende als auch hochleitende Materialien zu analysieren. Es hat auch eine ganze Reihe von Analysen einschließlich hochauflösender Bildgebung, Fluoreszenzsignale und Energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDS). Das Gerät läuft auf einer leistungsstarken grafischen Benutzeroberfläche (GUI), die es Benutzern ermöglicht, die Maschine mit Leichtigkeit zu bedienen. Der Benutzer kann analysierte Daten für weitere Studien speichern und speichern. Es ist auch mit einer Beispielbildbibliothek ausgestattet, mit der man einige der aufgezeichneten Daten vergleichen kann. S-3400N Typ II verfügt über ein automatisches Kalibriersystem zur Positionierung und Bildnavigation, das dem Benutzer bei der korrekten Positionierung und Navigation von Bildern hilft. Dieses High-End-SEM wurde entwickelt, um die extremen Anforderungen an Bildgebung und Analyse in vielen Bereichen zu erfüllen. Mit fortschrittlicher Technologie, präzisen Messungen und einem breiten Spektrum an Analysefähigkeiten ist HITACHI S-3400N Type II das perfekte Instrument für verschiedenste Forschungsbereiche.