Gebraucht HITACHI S-3400N #293602464 zu verkaufen

HITACHI S-3400N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit hervorragender Bildqualität und hoher Auflösung, das ideal zur Analyse der Oberfläche einer Probe geeignet ist. Es bietet eine breite Palette von Funktionen wie 3D-Bildgebung, erweiterte Messtechnik und Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD). Das Mikroskop ist mit einer High-End-Säule ausgestattet, die mit einer sechsteiligen Feldemissionspistole ein erweitertes Sichtfeld (bis zu 5 cm) bei hoher Vergrößerung liefert. Dadurch kann der Bediener Proben mit hohen Auflösungen analysieren, bis zu 1,5 nm mit sekundärer Elektronenbildgebung (SEI) und 5 nm mit kritischer Punkttrocknung (CPD). HITACHI S-3400 N hat 4 Hauptabbildungsmodi, die optimale Ergebnisse in Abhängigkeit von den Probenanforderungen ermöglichen; SEI, CPD, Rückstreuelektronenbildgebung (BEI) und Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS). Im SEI-Modus werden von der Probe erzeugte Sekundärelektronen vom Elektronendetektor detektiert und zur Erzeugung eines Bildes verwendet. CPD-Modus wird verwendet, wenn eine hochauflösende Bildgebung benötigt wird, wo Proben in einer Trockenkammer abgebildet werden, um Kontaminationen zu reduzieren. Der BEI-Modus erzeugt ein Bild aus rückgestreuten Elektronen, die von der Probenoberfläche abgeprallt sind. Dieser Modus wird für Proben mit geringem Kontrast verwendet, um die feineren Details sichtbar zu machen. Der AALEN-Modus dient zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung einer Probe. Dies geschieht durch Detektion und Messung der Energien von Elektronen, die von der Probe gestreut wurden. Dieses SEM wird auch mit einer Vielzahl von Funktionen verbessert, einschließlich einer LWD-Linse (Long Working Distance), die die Wirkung von Aberrationen reduziert, einem Energiefilter mit hoher Energieauflösung und einem Stufenkippmechanismus. Der hochauflösende Energiefilter ermöglicht eine präzise Energieauswahl von Elektronen mit besseren Analysefähigkeiten und verbesserter Bildgebung. Der Stufenkippmechanismus ermöglicht eine präzise Ausrichtung des Objekts visuell oder durch Diagramme und Grafiken. S 3400 N bietet die perfekte Plattform für routinemäßige und komplexe Analysen und ist somit eine gute Wahl für eine Vielzahl von Laboren.