Gebraucht HITACHI S-3400N #293606246 zu verkaufen

HITACHI S-3400N
ID: 293606246
Weinlese: 2005
Scanning Electron Microscope (SEM) Detector: SE, BSE Detector Rotary pump Air compressor LCD Monitor Zig-zag capture 3D-Viewer Operating system: Windows XP Pro 2005 vintage.
HITACHI S-3400N ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es umfasst Feldemissionskanone (FEG) Typ Elektronenoptik, die hohe Helligkeit, hohe Auflösung und niedrige Aberration, macht HITACHI S-3400 N für eine breite Palette von Anwendungen geeignet, einschließlich der Abbildung von Mikrostrukturen, Zusammensetzungsanalyse, Elementaranalyse und Messung von physikalischen Parametern. S 3400 N bietet ein hohes Maß an Leistung und Bildqualität. Seine ultrahohe Auflösungsleistung ermöglicht die Beobachtung feiner Mikrostrukturen mit überlegener Schärfentiefe und geräuscharmen Eigenschaften. Die geringe Aberration Elektronenoptik Ausrüstung ist in der Lage, exakte Fokussierung, so dass die Beobachtung von Objekten mit mehr Detail. S-3400N ist mit einem ausgeklügelten Autofokussiersystem ausgestattet, das eine automatische Pegeloptimierung von Probenoberfläche und Bildfokus ermöglicht. Das Gerät verfügt auch über eine intelligente Bildverarbeitung, so dass der Benutzer die Bildparameter einfach auf optimale Ergebnisse einstellen kann. HITACHI S 3400 N enthält eine integrierte digitale Maschine für einfache und effiziente Bildgebung. Es verfügt über ein einstellbares Sichtfeld (FOV) für die Scanauswertung und kann mehrere Funktionen wie automatisiertes Scannen, Parameteranpassungen für die Bildgebung und Aufnahmen einzelner oder mehrerer Frames ausführen. Automatische Bildausrichtung und Nähte können auch für die schnelle und effiziente Analyse großer Probenflächen verwendet werden. S-3400 N verfügt über ein modernes Vakuumwerkzeug, um eine stabile und konstante Atmosphäre für die Bildgebung zu schaffen. Dies ist wesentlich, um Verunreinigungen oder Geräuschstörungen zu vermeiden. Eine automatische thermische Driftkompensation hilft dabei, eine konstante Bildebene aufrechtzuerhalten, während ein Temperaturregelungsmodell die Erzeugung von Wärmelärm verhindert. Abschließend ist das HITACHI S-3400N Rasterelektronenmikroskop ein fortschrittliches, hochauflösendes Instrument, das hervorragende bildgebende Ergebnisse für eine Vielzahl von Anwendungen liefert. Es kombiniert hochauflösende Elektronenoptiken mit einer ausgeklügelten Autofokussierung und einem digitalen Bildgebungssystem für präzise und präzise Bildgebung. Die fortschrittliche Vakuumeinheit sorgt für eine stabile und saubere bildgebende Umgebung, während die Temperaturregelmaschine thermisches Geräusch verhindert. Alle diese Funktionen machen HITACHI S-3400 N zur perfekten Wahl für eine Vielzahl von bildgebenden Aufgaben.
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