Gebraucht HITACHI S-3400N #293606247 zu verkaufen

HITACHI S-3400N ist ein Rasterelektronenmikroskop zur Beobachtung und Analyse der Oberflächenstruktur von Proben. Es ist ein hochauflösendes Hochleistungsinstrument mit großer Schärfentiefe und hochpräziser elektro-optischer Ausrichtung für genaue Bildgebung. HITACHI S-3400 N verfügt über ein großes Sichtfeld zur besseren Erkennung von Oberflächenmerkmalen und verbessertem Kontrast. Es hat eine Beschleunigungsspannung von 0,5 bis 30kV, die eine genauere Analyse von Proben ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine große Schärfentiefe zur besseren Abbildung feinerer Strukturen. Das Mikroskop ist mit einem Rasterelektronenmikroskop (SEM) -Detektor ausgestattet, der es dem Benutzer ermöglicht, Bilder mit höherer Auflösung und Kontrast zu erfassen. Es ist auch mit einem hochauflösenden Everhard-Thornley-Typ Backscattered Electron (BSE) Detektor ausgestattet, um kontrastreiche rückgestreute Bilder bereitzustellen. Beide Detektoren sind mit einem LED-Beleuchter ausgestattet, um die Lichtintensität für hellere und klarere Bilder zu optimieren. S 3400 N verfügt über eine vollständig computergesteuerte Stufe, mit der Proben präzise geladen, positioniert und fokussiert werden können. Das Mikroskop verfügt außerdem über einen hochgeschwindigkeitsmotorisierten Fokussiermechanismus zur schnellen und genauen Abbildung von Proben. Dies ermöglicht zusammen mit der computergesteuerten Stufe einen vollautomatischen Betrieb, der eine unglaubliche Genauigkeit und Wiederholbarkeit für die Probenuntersuchung bietet. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über eine fortschrittliche Bildgebungssoftware zur vollständigen Kontrolle von Probenparametern, Datenanalyse und Reporting. S-3400N verfügt über eine einfache, benutzerfreundliche Oberfläche und intuitive Menüs und Bedienelemente. Darüber hinaus ist das System mit Windows-basierten PCs kompatibel und kann über die integrierte Joystick-Einheit bedient werden. Dadurch ist das Mikroskop auch für Anfänger einfach zu bedienen. Insgesamt ist S-3400 N eine fortschrittliche Rasterelektronenmikroskopmaschine, die hervorragende Auflösung, Kontrast und Genauigkeit für die Analyse von Proben bietet. Die Hochgeschwindigkeits-Fokussierung und der automatisierte Betrieb ermöglichen eine hochpräzise Bildgebung und Datenanalyse, wodurch Benutzer detaillierte Probenforschung und -analyse durchführen können.