Gebraucht HITACHI S-3400N #293606248 zu verkaufen

HITACHI S-3400N
ID: 293606248
Weinlese: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM) Detector: SE, BSE Detector Rotary pump Air compressor LCD Monitor Zig-zag capture 3D-Viewer Operating system: Windows XP Pro 2007 vintage.
HITACHI S-3400N Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein beliebtes Instrument zur Abbildung der Mikro- oder Nanostrukturen von Proben. Das Mikroskop verwendet einen Elektronenstrahl, um die Probe abzutasten und die Details seiner Oberflächen abzubilden. Dieses Mikroskop ist ein Niedervakuumsystem und kann Proben in einer Reihe von Modi abbilden, wie Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen und Röntgenstrahlen. HITACHI S-3400 N hat eine Auflösung von 1,3 nm im Sekundärelektronenmodus und 0,2 nm im rückgestreuten Elektronenmodus. Das Sichtfeld, dass es zur Abbildung fähig ist, ist 20mm × 20mm und die maximalen Vergrößerungen erreichbar sind 40.000x im Sekundärelektronenmodus und 400.000x im rückgestreuten Elektronenmodus. Die Elektronen werden auf eine Energie von 10kV beschleunigt, mit einer Energieausbreitung von 3,2%. S 3400 N ist ein vollautomatisches System, das eine schnelle und einfache Einstellung der Bühne und der Kondensatorlinse sowie eine bereichsspezifische Bildgebung und Kontrolle der Auflösung, des Kontrastes und der Helligkeit ermöglicht. Das Instrument hat die Flexibilität, leicht zwischen verschiedenen Abbildungsmodi zu wechseln. S-3400 N bietet erweiterte Funktionen wie einen geladenen und ungeladenen Sekundärelektronendetektor, automatische Stigmentierungseinstellung und Videoanzeige und -aufnahme. Ein optionaler EDS-Detektor bietet die Möglichkeit, Proben mit Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS) abzubilden. Die hervorragende Leistung von S-3400N wird durch seine benutzerfreundliche Schnittstelle weiter verbessert, die den Betrieb mehrerer Scanmodi schnell und einfach ermöglicht. Das benutzerfreundliche Softwarepaket bietet eine Reihe von praktischen Funktionen wie Beispielspeicher, Skripting, Suchfunktionen und verschiedene andere Anpassungsoptionen. Abschließend ist HITACHI S 3400 N eine ausgezeichnete Wahl für ein Rasterelektronenmikroskop, da es in der Lage ist, eine breite Palette von Proben in verschiedenen Modi mit hoher Auflösung und maximalen Vergrößerungen abzubilden. Seine erweiterten Funktionen, Benutzerfreundlichkeit und hervorragende Bildgebungsleistung machen es zur idealen Wahl für jede Laboreinstellung.
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