Gebraucht HITACHI S-3400N #293615040 zu verkaufen

ID: 293615040
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3400N Rasterelektronenmikroskop ist ein hochpräzises Instrument, das in einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen eingesetzt wird. HITACHI S-3400 N verfügt über eine einzigartige hochauflösende bildgebende Ausrüstung, die höchste Auflösung und extrem hohen Kontrast bietet. Das elektronenoptische System wurde speziell mit hohen Vergrößerungsfähigkeiten entwickelt, was ein maximales vergrößertes Sichtfeld von bis zu fast 17.000 x ermöglicht. Darüber hinaus unterstützt die Einheit sowohl sekundäre als auch rückgestreute Elektronenbilder, wodurch Anwender die Flexibilität erhalten, sowohl qualitative als auch quantitative Daten zu erhalten. S 3400 N ist mit einer breiten Palette von Detektoren ausgestattet, die notwendige Details für alle Arten von Forschungsprojekten erfassen können. Eine einzigartige Kombination von Sekundärelektronen und rückgestreuten Elektronendetektoren ermöglicht sowohl eine großflächige Bildgebung, wie Übersichten von Proben, als auch eine hochauflösende Abbildung einzelner Partikel. Die großflächige Bildgebung wird mit einer integrierten CCD-Kamera unterstützt, während Punktdetektoren für hochauflösende bildgebende Anwendungen eingesetzt werden. Mit dem Zusatz eines EDS-Detektors können S-3400N Elementaranalysen durchführen. HITACHI S 3400 N ist eine sehr zuverlässige Maschine und wird durch ein umfassendes Serviceprogramm unterstützt. Es bietet eine breite Palette von integrierten Steuerungs- und Bedienungsfunktionen, einschließlich automatischem Probenaustausch und Ausrichtung sowie automatischer Fokus- und Astigmatismuskorrektur. Darüber hinaus kommt das Tool mit einem intuitiven Softwarepaket, das es einfach für fortgeschrittene Benutzer und Anfänger zu bedienen macht. S-3400 Rasterelektronenmikroskop N ist zu einer beliebten Wahl für diejenigen geworden, die ein flexibles Hochleistungsinstrument suchen. Dank modernster Technologie und höchster Auflösung eignet es sich für eine Vielzahl von Anwendungen von der Grundlagenforschung bis zur industriellen Inspektion und Fehleranalyse. Es ist eine ausgezeichnete Wahl für jedes Labor, das nach erstklassigen Bildgebungs- und Analysefunktionen aus einer zuverlässigen Quelle sucht.
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