Gebraucht HITACHI S-3400N #293618150 zu verkaufen
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ID: 293618150
Weinlese: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM)
EPS-PC
Computer terminal
Pumps
Accessories
2007 vintage.
HITACHI S-3400N ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Abbildung verschiedener Probentypen ermöglicht. Das Instrument ist in der Lage, detaillierte Bilder von Proben bei Vergrößerungen von bis zu 50.000x zu erfassen und verfügt über eine Vakuumkammer mit einer Sicht von bis zu 44 Grad. HITACHI S-3400 N ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, darunter ein leistungsstarker Detektor, eine mikroprozessorgesteuerte Elektronik und ein proprietäres „intelligentes“ Softwarepaket. S 3400 N verwendet eine Wolfram-Filament-Elektronenkanone, um einen fokussierten Elektronenstrahl zu erzeugen. Dieser von einem Abtastablenker geführte Strahl dient zur Bestrahlung der Probenoberfläche. Die durch diese Wechselwirkung erzeugten Sekundärelektronen werden dann vom Detektor des Instruments detektiert. Der Detektor, ein hochmodernes Merkmal von S-3400 N, ist mit einem eingebauten Szintillator ausgestattet, der die genaue Quantifizierung von detektierten Sekundärelektronen ermöglicht. Dies ermöglicht eine sehr detaillierte Abbildung von Proben in Oberflächen- und Unterflächenbereichen. Das in HITACHI S 3400 N enthaltene Softwarepaket bietet eine einfach zu bedienende Schnittstelle zur Steuerung des Instruments. Dieses Paket mit dem geschickten Namen „SmartScope“ ermöglicht es dem Benutzer, Anpassungen der Elektronenkanonen-Spannung, der Scangröße und der Abtastgeschwindigkeit vorzunehmen. Darüber hinaus ermöglicht SmartScope dem Benutzer, mehrere verschiedene Bilder des gleichen Beispielbereichs zu erfassen und schnell zu einem einzigen Bild zu kompilieren. Diese Fähigkeit, bildgebende Einstellungen anzupassen, kombiniert mit den leistungsstarken Vergrößerungen, die von S-3400N angeboten werden, machen das Instrument zu einem äußerst vielseitigen und wertvollen Werkzeug in jedem Labor. HITACHI S-3400N ist sehr zuverlässig, mit integrierten Kühlsystemen, die sicherstellen, dass Instrument und Probe sicher und ohne Leistungseinbußen eingesetzt werden können. Es ist auch intuitiv, mit gut beschrifteten Bedienelementen und einer klaren Benutzeroberfläche. Darüber hinaus ist das Instrument verstellbar, um Proben verschiedener Größen und Typen aufzunehmen. Abschließend ist HITACHI S-3400 N ein fortschrittliches, sehr vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das für die hochauflösende Abbildung verschiedener Probentypen entwickelt wurde. Mit seiner Wolfram-Filament-Elektronenkanone, einem robusten Detektor und einem intuitiven Softwarepaket bietet S 3400 N beispiellose Leistung und Benutzerfreundlichkeit in jedem Labor.
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