Gebraucht HITACHI S-3400N #293653432 zu verkaufen

HITACHI S-3400N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer Feldemissionskanone, die eine hochauflösende Bildgebung und Analyse sowohl organischer als auch anorganischer Proben ermöglicht. HITACHI S-3400 N enthält eine Waffenausrüstung, die mit einer Elektronen-Barium-Isolierung (EBI) beschichtet ist, was die Oberflächenaufladung während der Bildgebung erheblich reduziert. Dies verhindert Bildunschärfe und ermöglicht die Abbildung von sehr detaillierten Proben. Das Pistolensystem verfügt über hervorragende Auflösungsfunktionen mit einem Dynamikbereich von 0,2 Nanometern und ermöglicht eine beispiellose Abbildung kleiner Strukturen mit großer Klarheit. S 3400 N bietet auch eine Reihe von beschleunigten Spannungsoptionen im Bereich von 0,01-20 kV und ermöglicht die Abbildung einer Vielzahl von Proben. Es wird auch mit einer X-Y-Stufe geliefert, die ein grobes und feines Inkrementdesign aufweist und eine präzise Probennavigation und Vergrößerung ermöglicht. Diese Stufe verfügt auch über einen automatischen Rückstellmechanismus und eine digitale Ausleseeinheit, die die genaue Position der Probe jederzeit anzeigt. Zusätzlich enthält HITACHI S 3400 N einen In-Linsen-Detektor, der hochrealistische Bilder mit drei Vergrößerungsmöglichkeiten, höherer Vergrößerungsleistung, höherer Elektronenakkumulation und einem Polarisationsdetektor mit einer Auflösung von 1,2 nm und sowohl Röntgen- als auch Elektronenempfindlichkeit wiedergibt. Dies ermöglicht die Erzeugung dreidimensionaler Bilder, mit denen die innere Oberflächenstruktur und die chemische Zusammensetzung einer Probe analysiert werden können. S-3400N ist mit einer Niedervakuummaschine mit einem Restgasspiegel von weniger als 10-10 Torr und einem Ultrahochvakuumwerkzeug mit einem Restgasspiegel von unter 10-11 Torr ausgestattet. Dies ermöglicht den Aufbau eines Ultrahochvakuums in kurzen Zeiträumen sowie deutliche Reduktionen der Partikelstreuung und der Oberflächenbeladung. S-3400 N verfügt auch über eine große Kammer, die eine präzisere Platzierung und Manipulation von Mustern ermöglicht, ein automatisiertes Betriebsmittel, mit dem der Benutzer Einstellungen speichern und für eine schnelle Bildgebung zurückrufen kann, und eine breite Palette von Zubehör und Komponentenoptionen, um das SEM für spezifische Bildgebungs- und Analyseaufgaben weiter anzupassen. Insgesamt ist HITACHI S-3400N ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, hochauflösende Bilder und Analysen sowohl organischer als auch anorganischer Proben bereitzustellen und eine detaillierte Analyse von strukturellen Merkmalen und chemischen Zusammensetzungen zu ermöglichen. HITACHI S-3400 N verfügt über mehrere einzigartige Merkmale, darunter ein EBI-Waffenmodell, einen leistungsstarken In-Objektiv-Detektor und eine leistungsstarke Niedervakuum- und Ultrahochvakuum-Ausrüstung, um sicherzustellen, dass Benutzer genaue und zuverlässige Ergebnisse erzielen können.