Gebraucht HITACHI S-3400N #293661076 zu verkaufen

HITACHI S-3400N Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Hochleistungsinstrument für fortschrittliche wissenschaftliche und industrielle Forschung und Analyse. Es ist für den Betrieb in einer Vielzahl von Bereichen, einschließlich Materialwissenschaft, Prozesssteuerung, biomedizinische und Halbleiterforschung. HITACHI S-3400 N wurde entwickelt, um ultimative Leistung mit einfacher Bedienung zu kombinieren. Halbautomatische Funktionen werden integriert, um Zeit und Aufwand bei der Probenvorbereitung und -analyse zu reduzieren, während die kontinuierliche Messfähigkeit die Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Ergebnisse gewährleistet. S 3400 N verwendet eine Rasterelektronensäule bestehend aus einer Feldemissionskathode, einer Beschleunigungsspannung von 0-30 kV und einem Lichtbogendetektor, der eine Niedervakuum- und rauscharme Abbildung ermöglicht. Mit diesen Komponenten kann das Gerät bei einer Vergrößerung von 50,000X und einer Beschleunigungsspannung von 30 kV eine Auflösung von 1,2 nm erreichen. Die Abbildung von S-3400N wird durch die Aufnahme eines in-column Energy Dispersive X-Ray (EDX) Analysesystems beschleunigt. Diese EDX-Analyseeinheit bietet quantitative Messungen von Elementen in der Probe, die ein umfassenderes Bild der Zusammensetzung des untersuchten Materials ermöglichen. HITACHI S 3400 N kann auch zur Bewertung der Form und Struktur von Proben unter Verwendung eines Resistor Quantifiner (RQ) verwendet werden. Der RQ kombiniert ein paar verschiedene digitale Algorithmen mit Dunkelfeld-Bildgebung, so dass eine quantitative Analyse von Oberflächenrelief, Merkmalsgröße und -form und anderen Parametern mit minimalem Aufwand durchgeführt werden kann. Um die Sicherheit der Bediener von S-3400 N zu gewährleisten, ist die Maschine mit mehreren Sicherheitsmerkmalen ausgestattet. Zu diesen Merkmalen gehört ein vom Benutzer aktiviertes, 9mm dickes Blei-Legierung-Strahlschild, das bei Aktivierung vor die SEM-Säule gleitet und spiegelnd reflektierende stochastische Röntgenstrahlung minimiert, die Hautschäden verursachen kann. Das SEM ist auch mit einem geräuscharmen Shunt-Regler und einem Ionenfangwerkzeug ausgestattet, das verhindert, dass emittierte Elektronen austreten und dem Benutzer Schaden zufügen. HITACHI S-3400N bietet auch die Integration mit einer Vielzahl von Software, ermöglicht die Datenverarbeitung und Analyse der Bilder und EDX-Messungen. Diese Softwareintegration ermöglicht die Speicherung, Verarbeitung und gemeinsame Nutzung der Daten mit einer Vielzahl von Systemen. Um eine optimale Performance von HITACHI S-3400 N zu gewährleisten, wird eine regelmäßige Wartung empfohlen. Dies beinhaltet die regelmäßige Reinigung der Vakuumkomponenten (Bildsäule und EDX-Detektor), um jegliche Ansammlung von Trümmern zu entfernen, die die Leistung der Anlage behindern können. Zusammenfassend bietet das S 3400 N Scanning Electron Microscope Hochleistungs-Bildgebungsfunktionen, hervorragende Analysefunktionen für energiedispersive Röntgenstrahlen (EDX) und zahlreiche Sicherheitsmerkmale. Kombiniert mit einfach zu bedienenden automatisierten Funktionen erleichtert S-3400N die Benutzereffizienz und ermöglicht einen optimalen Durchsatz der Forschungsergebnisse.