Gebraucht HITACHI S-3400N #293757543 zu verkaufen

HITACHI S-3400N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochmoderne quantitative Bildgebungs- und Analysefähigkeiten für Forscher bietet. Es ist ein Hochleistungsinstrument, das für die Anforderungen moderner Forschung gebaut wurde. Es bietet die höchste Auflösung Bildgebung und die größte Tiefenschärfe eines jeden SEM derzeit auf dem Markt. Das Kernstück von HITACHI S-3400 N ist die vielseitige Bildverarbeitungsplattform. Das SEM verfügt über eine Reihe von bildgebenden Anwendungen und einen optionalen Bühnenadapter, der die Erfassung von konventionellen und sekundären Elektronenbildern ermöglicht. Die gleichbleibende Leistung des Geräts wird auch durch eine Reihe von Merkmalen wie variable Druckabtastung und ein automatisiertes gasförmiges Probenübertragungssystem gewährleistet. Das S 3400 N basiert auf den neuesten Intel Multi-Core-Prozessoren und bietet eine schnellere Analyse und 3D-Bildgebung in Echtzeit. Das Instrument verfügt außerdem über 8 GB RAM, eine NVIDIA-Grafikkarte und ein Laufwerk mit hoher Kapazität. Darüber hinaus ist das Instrument komplett mit einer Reihe von bildgebenden Softwareoptionen ausgestattet, einschließlich eines integrierten Bildanalysepakets. S-3400 N bietet auch eine Reihe von High-End-Hardware für die Probenmanipulation. Dazu gehören eine automatisierte Stufe mit hochauflösender Bildgebung, eine Kryo-Stufe mit eigener Kühleinheit und eine Motorstufe für automatisierte Messungen. Jede Probe kann mit bis zu vier verschiedenen Elektronenströmen abgetastet werden, was eine erweiterte Schärfentiefe und eine hohe Auflösung in derselben Probe ermöglicht. In Bezug auf SEM-Zubehör enthält HITACHI S 3400 N einen IVT-Sender (Integrated Vacuum Technology), der es dem Anwender ermöglicht, unmittelbar nach dem Öffnen der Kammer ein ultimatives Vakuum zu erreichen. Es verfügt auch über eine hohe Affinität E-Pistole, die hohe Dichte ermöglicht, geringe Geräuschaufnahme bei Abstrahlströmen. Schließlich ermöglicht die automatisierte Probentransfervorrichtung dem Laborpersonal einen schnellen Probenwechsel, ohne die Kammer zu öffnen. Insgesamt ist S-3400N ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit einer Reihe von Funktionen. Es wurde entwickelt, um erstklassige Bildgebungs-, Analyse- und Probenmanipulationsmöglichkeiten bereitzustellen. Mit einer leistungsfähigen Bildgebungs- und Analyseplattform ist dieses Instrument in der Lage, eine Vielzahl von Forschungsanforderungen zu erfüllen. Von der In-situ-Bildgebung biologischer Materialien und Nanomaterialien bis zur Oberflächen- und Elementaranalyse ist HITACHI S-3400N ein vielseitiges Bildgebungs- und Analysewerkzeug für die heutige moderne Forschung.