Gebraucht HITACHI S-3400N #293763066 zu verkaufen

ID: 293763066
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3400N ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene Forschung. Mit fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen und hochauflösender Bildgebung ermöglicht HITACHI S-3400 N es Forschern, Objekte auf nanoskaliger Ebene anzuzeigen. Das SEM verfügt über eine neu gestaltete Elektronensäule, die zur Verbesserung der Bildqualität beiträgt. Die Säule verfügt über eine integrierte Objektivlinse, die eine erweiterte Schärfentiefe erzeugt, um eine größere Schärfentiefe beim Betrachten von Objekten auf nanoskaliger Ebene bereitzustellen. Die Kolonne trägt auch eine neue dreistufige magnetische Vakuumkammer, die dafür sorgt, dass Kolonne und Probenkammer während des Gebrauchs unbelastet bleiben. S 3400 N ist in der Lage, Bilder mit einer Auflösung von bis zu 5 Milliarden Pixel zu erfassen, was eine detailliertere Bildgebung als je zuvor ermöglicht. Das SEM hat eine nachweisbare Auflösung von 0,1 Nanometern, was selbst das kleinste Objekt für das Auge sichtbar macht. Mit seinem leistungsstarken Vergrößerungsbereich kann das SEM die Bildqualität sowohl in niedrigen als auch in hohen Vergrößerungen optimieren. S-3400 N verfügt auch über eine breite Palette von automatisierten Steuerungen, so dass es einfacher zu bedienen. Die Benutzeroberfläche des SEM ist benutzerfreundlich und bietet Forschern die Möglichkeit, Einstellungen schnell und genau anzupassen. Darüber hinaus ist das SEM mit einer Vielzahl von Zubehörteilen kompatibel, sodass der Forscher das SEM an seine Bedürfnisse anpassen kann. S-3400N verfügt auch über erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen, die es zu einem der leistungsstärksten SEMs auf dem Markt machen. Es verfügt über einen BSE-Detektor und einen SE-Detektor, wodurch Forscher sowohl helle als auch dunkle Objekte erfassen können. Das SEM unterstützt auch eine Vielzahl von Kameras und Objektiven, so dass der Forscher alles von einer Weitwinkelansicht bis zu einer ultrahochauflösenden Ansicht aufnehmen kann. Insgesamt ist HITACHI S 3400 N mit seinen fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen, benutzerfreundlichen Bedienelementen und einem breiten Spektrum an kompatiblen Zubehörteilen eine ausgezeichnete Wahl für Forscher, die nach einem leistungsstarken SEM suchen. Mit seiner unschlagbaren Auflösung und bildgebenden Qualität hilft HITACHI S-3400N Forschern, Einblicke in die nanoskalige Welt zu gewinnen.
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