Gebraucht HITACHI S-3400N #293800494 zu verkaufen

HITACHI S-3400N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in wissenschaftlichen und technischen Anwendungen weit verbreitet ist. Dieses Rasterelektronenmikroskop nutzt einen Elektronenstrahl, um Bilder einer Probenoberfläche zu erzeugen, aus der seine Struktur, seine elementare Zusammensetzung und sein chemischer Zustand bestimmt werden können. Die Grundlagen von HITACHI S-3400 N bestehen aus einer Elektronenkanone zur Erzeugung des Elektronenstrahls, Linsen zum Fokussieren des Strahls, einem Ablenker zum Abtasten der Probe in einem Rastermuster und einem Detektor zum Umwandeln des Elektronenstrahls in ein visuelles Bild. Das Gerät kann Proben bis zu 300.000 Mal vergrößern. Dieses Modell verfügt auch über erweiterte bildgebende Funktionen wie automatische Ausrichtung, Hochgeschwindigkeitsbildgebung und -erkennung und eine Vielzahl von Messfunktionen wie dreidimensionale Analysen. S 3400 N verwendet eine Feldemissionskanone als Elektronenquelle. Diese Pistole ist in der Lage, einen Fernstrahlstrom von bis zu 10mA mit einem Mindestarbeitsabstand von 0,13 mm und einem Vergrößerungsbereich von 10 bis 300.000 Mal zu erzeugen. Die Pistole verfügt auch über mehrere Linsen für optimale Strahlkondensation und Ablenkung. Der Deflektor in S-3400 N ist ein hochauflösender Hochgeschwindigkeits-Hochspannungstyp, der in der Lage ist, Hochgeschwindigkeitsdaten über einen weiten Bereich zu sammeln. Es verfügt auch über eine hochgenaue automatische Ausrichtung, die es ermöglicht, Bilder von bewegten Proben genau zu erfassen. Außerdem können Scangrenze und Reichweite unabhängig von der Pistole betrieben werden, was eine hochpräzise Bildgebung gewährleistet. Der Detektor in S-3400N soll den Elektronenstrahl schnell und präzise in ein visuelles Bild umwandeln. Es ist mit einer multilateralen Ablenkplatte ausgestattet, mit der die detektierten Elektronen je nach Probentyp in verschiedenen Richtungen dargestellt werden können. Dies ermöglicht eine effiziente Abbildung von Merkmalen wie Partikeln und kristallinen Strukturen. HITACHI S 3400 N Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsstarkes Werkzeug, das extrem hochauflösende Bilder mit schneller Bewegung und hoher Genauigkeit für wissenschaftliche und technische Anwendungen liefert. Die fortschrittlichen Funktionen und das Linsensystem ermöglichen es Forschern, ein detailliertes Bild der Probenoberfläche und ihrer Zusammensetzung zu erhalten. Das Gerät bietet eine ideale Lösung für Anwendungen mit Materialanalyse, Mikroelektronik und vielem mehr.