Gebraucht HITACHI S-3400N #293808981 zu verkaufen
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ID: 293808981
Weinlese: 2009
Scanning Electron Microscope (SEM)
Manual
Does not include:
Pump
PC
Cables
2009 vintage.
HITACHI S-3400N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für verschiedene Anwendungen eingesetzt werden kann, darunter Materialforschung, Fehleranalyse und biologische Forschung. Das Mikroskop bietet hochauflösende Bildgebung, die Funktionen bis zu 0,5 Nanometer auflösen kann. Es verfügt über eine Vakuumkammer, die Elektronenstreuungen reduziert und die Bildqualität verbessert. HITACHI S-3400 N verfügt über einen monochromatischen Röntgendetektor, der die spektroskopischen Analysefähigkeiten verbessert. So können Forscher elementare, chemische und kristalline Identifikationsanalysen mit verschiedenen Probengrößen durchführen. Der Detektor hat eine sehr hohe Empfindlichkeitsrate und kann Strukturunterschiede bis in den Nanometerbereich erfassen. S 3400 N hat einen zweiachsigen Scan-Mechanismus mit einem großen 10 cm Scanbereich. Dies erleichtert eine einfache Einstellung des Abtastbereichs und der Auflösung der aufgenommenen Bilder. Die hochauflösende Erfassung kann die geringen Grenzverschiebungen oder Abweichungen zwischen der Probe und dem Rest der Probe erkennen. Das Mikroskop verfügt auch über einen In-Linsen-Detektor, der auch bei niedrigem Vakuum oder hoher Luftfeuchtigkeit Bilder mit hoher Genauigkeit liefert. S-3400N hat mehrere Kontrastmethoden zum Sammeln von Bildern, wie Secondary Electron Imaging (SEI), Backscattered Electron Imaging (BEI), Energy Dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und Röntgenfluoreszenz (XRF). Es verfügt auch über eine Quellgrößensteuerungsfunktion, die erweiterte Auflösung und Bildkontrast ermöglicht. HITACHI S 3400 N ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für verschiedene Forschungs- und Analyseanwendungen eingesetzt werden kann. Es bietet hochauflösende Bildgebung und verschiedene Kontrastmethoden zur Datenerfassung. Es verfügt über einen monochromatischen Röntgendetektor und einen In-Linsen-Detektor für Hochtreue-Bilder bei niedrigem Vakuum oder hoher Luftfeuchtigkeit. Es verfügt außerdem über einen zweiachsigen Scan-Mechanismus und eine Quellgrößensteuerungsfunktion. S-3400 N ist sehr zuverlässig und effizient und kann für verschiedene Materialien und biologische Forschungsanwendungen verwendet werden.
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