Gebraucht HITACHI S-3400N #9153016 zu verkaufen

HITACHI S-3400N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um hochauflösende Bildgebungsfunktionen mit ausgezeichneter Signal- zu Rauschleistung bereitzustellen. Dieses fortschrittliche SEM eignet sich für eine breite Palette von Anwendungen, einschließlich nanoskalige Analyse, Halbleiterbauelementherstellung und Oberflächenwissenschaften. Die fortschrittliche optische Ausrüstung von HITACHI S-3400 N verwendet eine aberrationskorrigierte Schottky-Feldemissionselektronenkanone, die einen Strahlstrom von bis zu 200 pA mit einer Spotgröße von weniger als 5 Nanometern ermöglicht. Der einzigartige hochpräzise Abtastmechanismus und das patentierte Ablenkdesign sorgen für eine stabile Bildbildung, ohne Bildverzerrung und minimale Bildverschiebung. Das Knopf-Multi-Mode-Scannen ermöglicht ein reibungsloses Scannen in alle Richtungen und ist auch mit einem einzigen Finger leicht zu steuern. S 3400 N wird standardmäßig mit einem energiedispersiven Röntgenspektroskopiesystem (EDS) geliefert, das eine elementare Analyse und eine kompositorische Abbildung ermöglicht. Die EDS-Einheit ist mit einem neu entwickelten X-TalTM ultra-thinSDD-Halbleiterdetektor ausgestattet, der eine hervorragende Erkennungseffizienz und geringe Rauschleistung bietet. Die dynamische Linienabtastfunktion ermöglicht eine schnelle digitale Bilderfassung und -analyse, während die Echtzeit-Segmentanalyse und die automatisierte digitale Analyse schnelle und genaue Ergebnisse ermöglichen. Die digitale Datenerfassungsmaschine von S-3400N unterstützt eine breite Palette digitaler Ausgabeformate, darunter BMP, JPEG, TIFF und andere gängige Formate. Das digitale Datenerfassungswerkzeug unterstützt auch die Fernbedienung, so dass es von einem separaten Computer aus bedient werden kann. Der Computer kann verwendet werden, um das Mikroskop zu steuern, Bilder zu erfassen und zu analysieren, Einstellungen anzupassen und vieles mehr. HITACHI S 3400 N wurde entwickelt, um eine sichere, ergonomische bildgebende Umgebung zu bieten. Das Mikroskop ist in einem elektromagnetischen Abschirmgehäuse eingeschlossen, das Störungen durch externe Quellen reduziert und das optische Gut schützt, sowie ein wabenartig gemustertes Gehäuse, das Vibrationen dämpft und die Maschine vor äußerem Schock schützt. Das LED-Beleuchtungsmodell sorgt für konsistente Beleuchtung und hilft, optische Fehler zu beseitigen. Das Bedienfeld ist einfach zu bedienen und bietet eine klare Rückmeldung für den Benutzer, und die Ausrüstung ist mit einem Not-Aus-Schalter ausgestattet, um die Sicherheit zu gewährleisten. S-3400 N Rasterelektronenmikroskop von HITACHI ist ein vielseitiges, zuverlässiges Instrument, das eine hochauflösende Bildgebung und eine hervorragende Signalleistung für Rauschen bietet. Dank seines fortschrittlichen Bildgebungssystems, EDS und digitalen Datenerfassungsfunktionen sowie seines intuitiven, ergonomischen Designs ist es eine ausgezeichnete Wahl für Forscher und Ingenieure, die die Grenzen der bildgebenden Technologie erweitern möchten.