Gebraucht HITACHI S-3400N #9167635 zu verkaufen

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ID: 9167635
Weinlese: 2007
Scanning electron microscope Resolution: Secondary electron: 3.0 nm 30kV, 10 nm 3kV Backscatter electron: 4.0 nm 30kV Magnification: 5x to 300, 000x Electron source: Pre-centered cartridge type tungsten hairpin filament Electrical: 20A, 240V 2007 vintage.
HITACHI S-3400N ist ein kompaktes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für effiziente, leistungsstarke Forschung und industrielle Analyse entwickelt wurde. Die geringe Größe des Geräts ermöglicht es, leicht in bestehende Laborräume zu passen und gleichzeitig den Wartungsaufwand zu minimieren. Dieses SEM der neuesten Generation bietet eine Reihe anspruchsvoller Funktionen, darunter ein digitales Bildverarbeitungssystem, das eine genaue hochauflösende Bildgebung und Analyse ermöglicht. HITACHI S-3400 N verfügt über eine einzigartige, hochauflösende Vergrößerungseinheit. Hierzu dient eine SEM-Säule, die eine zylindrische elektrostatische Linse in Kombination mit einer magnetischen Objektivlinse verwendet. Diese Kombination bietet eine deutlich verbesserte Auflösung und Kontrast, was eine viel klarere Sicht auf die minutengenauen Details der mikroskopischen Welt ermöglicht. S 3400 N ist für maximale Effizienz und Geschwindigkeit ausgelegt. Es verwendet eine Low-Vakuum-Plasma-Emissionsquelle, die eine höhere Stabilität erzeugt und schnellere Scanraten ermöglicht, ohne auf Qualität zu verzichten. Darüber hinaus sind die hochempfindlichen Detektoren der Maschine für alle bildgebenden Anwendungen optimiert, einschließlich sekundärer Elektronenbildgebung, in situ Tiltscanning, Röntgenelementanalyse und fokussierter Ionenstrahlbildgebung. HITACHI S 3400 N kann qualitativ hochwertige Bilder von nichtleitenden Materialien, organischen Baugruppen, bestimmten Mischungen und mehr erzeugen. Es ermöglicht Benutzern auch, Abstände und andere Dimensionen in einem Bild genau zu messen und schnell Koordinaten, Winkel und mehr zu melden. Insgesamt ist S-3400N ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop, das sowohl kompakt als auch leistungsstark ist. Die hochauflösenden Vergrößerungs- und Hochempfindlichkeitsdetektoren eignen sich ideal für ein breites Spektrum an Forschungs- und Industrieaufgaben. Seine einfach zu bedienende Schnittstelle, ausgezeichnete Bildqualität und hocheffiziente Scanraten machen dieses Tool zu einer guten Wahl für jedes Labor.
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