Gebraucht HITACHI S-3400N #9363668 zu verkaufen

HITACHI S-3400N Scanning Electron Microscope (SEM) ist die neueste Generation fortschrittlicher Forschungsinstrumente von HITACHI High Technologies. Dieses Produkt ist für die anspruchsvollsten Anwendungen der Rasterelektronenmikroskopie (SEM) wie die Bildgebung und Analyse von Millimeterproben und die ultrahochauflösende Abbildung von Proben im Nanometermaßstab konzipiert. Es verfügt über eine Feldemissionswaffe (FEG) und verfügt über eine hohe geometrische Stabilität, eine extrem geringe Aufladung und einen geringen Lärmbetrieb, eine ausgezeichnete Stromstabilität und eine reduzierte Probendrift. HITACHI S-3400 N umfasst eine hohe Vergrößerung, ein breites Sichtfeld, eine einstellbare Höhe und eine Neigungsmusterstufe sowie ein direktes digitales Bildgebungssystem. DieStage kann mit optionalen Kryostage- und Vakuumsystemen ausgerüstet werden oder mit metallischen und nichtmetallischen Proben verwendet werden, was eine quantitative Bewertung der elektromechanischen und thermoelektrischen Eigenschaften bei niedrigen Temperaturen ermöglicht. Das Probenmanipulationssystem umfasst auch eine große Auswahl an Probenhaltern, wie mechanische und elektrostatische Probenausrichtung und Probentransfer. S 3400 N ist mit digitaler Imageanalyzer-Software ausgestattet, die einfach zu bedienen ist und mehrere Imageinversion-Funktionen bietet. Dieses Instrument ist auch einzigartig entworfen, um Benutzern zu ermöglichen, das primäre SEM-Bild zu sehen, sekundäre Bilder aus dem gleichen Detektor oder von verschiedenen Detektoren, zu der gleichen Zeit. Es stehen eine ganze Reihe von bildgebenden Parametern zur Verfügung, einschließlich Detektoren für elementare Elementarabbildungen. HITACHI S 3400 N kann für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden, einschließlich der Abbildung von Isolationsmaterialien, Visualisierung der Nanostruktur von Materialien, Elektronenbeugung und Dynamikelektronenmikroskopie. Darüber hinaus sind seine hochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten für die Inspektion von Mikroskaleobjekten unerlässlich. Labor-geprüft und SICM-zertifiziert, die S-3400Nprovides ausgezeichnete Bildgeschwindigkeit und -qualität und ist ein reliableworkhorse für SEM-bezogene Forschungsanwendungen. S-3400 N bietet eine breite Palette von Funktionen, die dazu beitragen, Ihre Produktivität zu maximieren und SEM-bezogene Studien zu verbessern. Mit seiner vollautomatischen, hochpräzisen, fortschrittlichen Elektronik und der neuesten bildgebenden Technologie ist S-3400N das ideale Werkzeug für eine Vielzahl von Forschungsarbeiten. HITACHI S-3400N kann mit einer Reihe von zusätzlichen optionalen Zubehörteilen erweitert werden, um die Bedürfnisse Ihres Projekts zu erfüllen und Ihre Erfahrung mit der Rasterelektronenmikroskopie zu verbessern.