Gebraucht HITACHI S-3400N #9384953 zu verkaufen

HITACHI S-3400N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende bildgebende und analytische Funktionen für eine breite Palette von Materialien und Proben bietet. Es basiert auf der außergewöhnlichen Advanced Parallel Electron Beam (APE) -Säule mit einer Beschleunigungsspannung von bis zu 10 kV, einem Strahlstrom von bis zu 200 pA und einer Strahlenergieausbreitung von 5-200 keV, die eine hochpräzise Messung der Form, Struktur und elementaren Zusammensetzung von Materialien ermöglicht. HITACHI S-3400 N nutzt eine fortschrittliche multipolare Fokus-Ausrichtung (FAS), die optimale Leistung mit minimalem Aufwand kalibriert und aufrechterhält. Dieses System wird mit einem Hopräzisionselektronbalkenautofokussierungsmechanismus und einer Luftkühlungseinheit ausgestattet, ihm erlaubend, funktionell sogar während verlängerter Beobachtungsperioden zu bleiben. Darüber hinaus verfügt dieses vielseitige Instrument über eine 6-achsige Probenstufenkontrolle mit einer Probengröße zwischen 0,2 mm und 100 mm und einem Probengewicht bis zu 4 kg. Der Hauptvorteil von S 3400 N ist seine hochauflösende Bildgebungsfähigkeit. Es wird mit einer zweistufigen Kondensatorlinse mit hoher numerischer Apertur hergestellt, so dass der Benutzer komplexe Strukturen und Details in der Probe bis zu 0,2 Nanometer beobachten kann. Darüber hinaus ist die Maschine mit einem integrierten SE (Sekundärelektronen) -Detektor und einem hochempfindlichen SE-Detektor ausgestattet, der es dem Benutzer ermöglicht, mit optimaler Geschwindigkeit exakt Bilder aus der Probe zu erhalten. S-3400N bietet auch eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten für die Untersuchung von Proben. Es kann EDX (energy-dispersive Röntgenspektroskopie) -Spektren mit einer Auflösung von bis zu 0,1% sowie WDX (Wellenlängen-dispersive Röntgenspektroskopie) -Karten mit einer Auflösung von bis zu 0,01% aufnehmen. Es kann auch für EBSD (electron backscatter diffraction) -Beobachtungen mit vier verschiedenen Analysemodi sowie für die Oberflächenanalyse verwendet werden, wobei eine Reihe von Oberflächenzuständen von reinen Strömen über 1A/cm2 bis zu flussempfindlichen Proben mit Oberflächenströmen bis zu 0.002A/cm2 reicht. Um eine optimale Leistung für eine Vielzahl von Anwendungen zu bieten, bietet HITACHI S 3400 N eine Reihe von erweiterten Funktionen. Dazu gehören ein Dual-View-Modus, mit dem der Benutzer gleichzeitig die Oberfläche und die Unterfläche der Probe beobachten kann, sowie ein 3D-Modus, mit dem 3D-Oberflächenbilder der Probe erfasst werden können. Darüber hinaus ermöglicht das fortschrittliche bildgebende Steuerungstool des Instruments dem Benutzer, den Elektronenstrahl während der Beobachtung der Probe leicht zu manipulieren sowie Bilder, Einstellungen und andere Daten im Zusammenhang mit der Beobachtung zu speichern. Kurz gesagt ist S-3400 N ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit mehreren analytischen und bildgebenden Funktionen, mit denen der Benutzer Proben präzise beobachten und analysieren kann. Seine fortschrittliche FAS-Anlage, hochempfindliche Detektoren, leistungsstarke Strahlenergieverteilung und 6-achsige Probenstufensteuerung bieten Anwendern eine optimale Leistung für eine Vielzahl von Anwendungen.