Gebraucht HITACHI S-3500 #9144751 zu verkaufen
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ID: 9144751
Weinlese: 2000
Scanning electron microscope (SEM)
EDS Horiba 7021-H
3.5 nm Resolution in high vacuum mode
5.0 nm Resolution in variable pressure mode
1 - 270 Pa pressure range
Scintillator back scattered detector
Operational
2000 vintage.
Das HITACHI S-3500 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug, das optimal für hochauflösende Bildgebung mit ausgezeichneter Fokustiefe und überlegener Oberflächenqualität konzipiert ist. Seine beeindruckenden Scanfähigkeiten bieten Bilder mit ausgezeichnetem Bildkontrast und Detail. Der Aufbau des optischen Systems von S-3500 SEM liefert durch die Verwendung eines magnetfeldumgelenkten Elektronenstrahls anstelle eines Lasers hervorragende Ergebnisse. Dieser Elektronenstrahl kann hochauflösende Bilder mit einer Auflösung von bis zu 2 nm erzeugen und die Abtastkammer kann bis zu 1 mm Vakuum aufnehmen. HITACHI S-3500 enthält einen kombinierten elektrostatischen und magnetischen Felddetektor, der eine breite Palette von bildgebenden Verfahren ermöglicht, von der Abbildung bis zur atomaren Ebene bis zur Oberflächenanalyse. Gleichzeitig ermöglichen fortschrittliche Bildverarbeitungsalgorithmen wie Echtzeit-Bildfusion und vorausschauende Bildanalyse die Aufnahme hochauflösender Bilder ohne Leistungseinbußen. S-3500 SEM ist weiter mit einer Reihe zusätzlicher Detektoren zur Abbildung von Elektronen, Röntgenstrahlen und anderen Signalen ausgestattet. Diese Detektoren ermöglichen eine breitere Palette von bildgebenden Anwendungen, einschließlich Elementaranalyse und Leiterplatten. Darüber hinaus können HITACHI- S-3500 mit mehreren Zubehörteilen wie einer motorisierten Bühne, einem Apo-Finder, einer Luftschleuse, einer Tischplatte und anderen Adaptern kombiniert werden, sodass der Endbenutzer das Bildgebungssystem an seine Anforderungen anpassen kann. S-3500 SEM ist mit einer breiten Palette von Automatisierungs-, Bildgebungs- und Analysesoftware verfügbar, die Endbenutzern helfen kann, die Eigenschaften von interessanten Objekten zu bestimmen. Diese Software soll die Sicht und das Verständnis der untersuchten Probe weiter verbessern. Zusammenfassend soll HITACHI S-3500 SEM überlegene Bildgebung und Analyse von kurz- und langfristigen Prozessen ermöglichen. Es bietet eine beeindruckende Palette von bildgebenden Methoden und Software-Integration und eine breite Palette von Zubehör, die es für eine breite Palette von Anwendungen in verschiedenen Branchen geeignet machen.
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