Gebraucht HITACHI S-3500 #9286928 zu verkaufen

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ID: 9286928
Scanning Electron Microscope (SEM).
Das HITACHI S-3500 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein kompaktes Hochleistungsinstrument mit hoher Vergrößerungs- und Analysefähigkeit. Die hochauflösende digitale Bildgebungsfähigkeit von S-3500 SEM ermöglicht die Charakterisierung von Oberflächenmorphologie und Zusammensetzung. Mit seiner hervorragenden Fokusstabilität ist es das ideale Instrument, um qualitativ hochwertige Bilder mit genauen Messungen zu erzeugen. HITACHI S-3500 SEM weist eine Feldemissionselektronenquelle mit einer Beschleunigungsspannung von 0,2 bis 30 kV auf. Diese Abblendstrahlbestrahlung macht es ideal für die hochauflösende analytische Bildgebung und Analyse mit hoher Vergrößerung. S-3500 SEM verfügt außerdem über eine hochchromatisch-aberrationskorrigierte Objektivlinse und eine Niederspannungssäule zur Reduzierung von Linsenaberrationen. Diese Eigenschaften machen HITACHI S-3500 SEM ideal für die Beobachtung von Isolatoren, Polymeren und nichtleitenden Proben. S-3500 schließt auch mehrere Bildaufbereitungs- und Analysesysteme, einschließlich eines Everhatt-Typvariablendruck-Entdeckers des sekundären Elektrons (SE), eines Retro-Fokustypentdeckers des zurückgestreuten Elektrons (BSE), einer stabilen Pistole / sekundären Elektronbildaufbereitungssystems, einer Zurückfokuskontrolle und der SEM-Signalelektronvermehrer ein. Diese Bildgebungs- und Analysesysteme ermöglichen eine überlegene Auflösung, niedrige Vakuumbildgebungsfähigkeiten und die Fähigkeit, Oberflächenmikrostruktur und Zusammensetzung zu bewerten. Darüber hinaus umfasst HITACHI S-3500 ein Autofokussiersystem und eine Hochspannungs-Abtaststrahlsteuerung, die beide eine präzise und genaue Bilderfassung ermöglichen. Eine automatische Bildhelligkeits- und Kontraststeuerung hilft bei der Optimierung der Bildqualität. Zum System gehört auch ein Feldprobenadapter, der eine präzise und einfache Ausrichtung der Probe ermöglicht. S-3500 SEM enthält auch die EverView-Software, die eine intuitive, einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche bietet. Diese Software ermöglicht Bildmessung, -analyse und -optimierung und macht HITACHI S-3500 die ideale Wahl für fortgeschrittene Bild- und Analyseanwendungen. S-3500 SEM ist ein fortschrittliches, leistungsstarkes Instrument zur Erfassung hochauflösender Bildgebung und Analyse von Objekten von der Submikron-Millimeter-Skala. Die Stabilität und Zuverlässigkeit, kombiniert mit fortschrittlichen Bildgebungs- und Analysesystemen, machen HITACHI S-3500 zu einem idealen Werkzeug für jede Anwendung, die Hochleistungs-Bildgebung und -analyse erfordert.
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