Gebraucht HITACHI S-3500H #9208243 zu verkaufen

HITACHI S-3500H ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das von HITACHI High-Technologies Corporation entwickelt wurde. Es bietet eine hohe Bildgenauigkeit und eine Auflösung von bis zu 0,5 Nanometern und eine Bildgröße von bis zu 20 mm. Die fortschrittliche digitale Signalverarbeitung trägt zu seiner hervorragenden Bildqualität bei. Darüber hinaus erleichtern seine vielseitigen Funktionen und fortschrittlichen technologischen Funktionen den Betrieb des Benutzers und helfen dem Benutzer, zuverlässigere und genauere Daten zu erhalten. Das Gerät ist mit einer digitalen Signalverarbeitungseinrichtung und einem hochempfindlichen digitalen Abbildungssystem ausgestattet, das eine Bildaufnahme auch bei niedrigen Vergrößerungsgraden ermöglicht. Für die Probenbestrahlung verwendet die Einheit eine Feld-Emission-Elektronenkanone (FEG), um Elektronenstrahlen mit hoher Helligkeit bereitzustellen, um die Auflösung zu verbessern und den Kontrast zu verbessern. Darüber hinaus ist die Maschine einfach zu bedienen, mit einem semi-automatisierten Werkzeug mit einer offenen Hardware-Architektur für eine schnelle und präzise Ausrichtung der Ziele. Auf diese Weise erhält der Benutzer schnell schärfere Bilder mit einem höheren Detailgrad. Für den Betrieb enthält der Vermögenswert eine erhöhte Anzahl von Parametern, um die Oberflächentopographie eines Objekts oder Materials zu untersuchen, frei von Störungen durch Umweltfaktoren. Das Modell ist in der Lage, spektrale Informationen von Proben in verschiedenen Vergrößerungen zu sammeln, was verbesserte bildgebende Fähigkeiten bietet. Dadurch kann der Benutzer auch verschiedene in der Probe vorhandene Elemente identifizieren. Mit seinen hohen Vergrößerungsfähigkeiten ist das Instrument in der Lage, die Bildgebung von nanoskaligen Merkmalen, wie sie auf integrierten Schaltungen und anderen feinmaßstäblichen mechanischen Komponenten zu finden sind, effektiv zu analysieren. Die Software des Geräts verfügt über eine benutzerfreundliche Oberfläche und ist mit einer ausgeklügelten Steuerungsausrüstung ausgestattet, die dem Anwender eine breite Palette von Steuerungsfunktionen bietet und es dem Anwender ermöglicht, Parameter anzupassen. Darüber hinaus kann das System quantitative Analysemethoden verwenden, um Bilder mit höherer Genauigkeit zu erzeugen. Der erweiterte Subtraktionsmodus ermöglicht es dem Benutzer, unnötige Artefakte und Geräusche zu entfernen und die Gesamtgenauigkeit zu verbessern. Das Gerät verfügt auch über eine breite Palette von automatischen Messoptionen, die Flächen-, Längen- und Positionsmessungen umfassen, aber nicht auf diese beschränkt sind. Das SEM profitiert auch von einer automatisierten Probenhandhabungs- und Navigationsmaschine, die ein schnelles und einfaches Umschalten von Mustern ermöglicht, wodurch die für die Einrichtung und den Betrieb benötigte Zeit erheblich minimiert wird. Darüber hinaus ist das Tool mit einem 3D-Display zur einfachen Betrachtung komplizierter 3D-Musterstrukturen integriert, wodurch der Anwender präzise Abbildungsergebnisse erzielen kann. Schließlich ist das Instrument mit einer Vielzahl von Zubehör wie EDS, EBSD und CLEM kompatibel, so dass der Benutzer die Leistung des Geräts weiter optimieren kann. Abschließend bietet S-3500H eine breite Palette von Funktionen und Fähigkeiten, um die Bildgenauigkeit zu verbessern und Bilder zu verbessern. Dank seiner Vielseitigkeit und fortschrittlichen Technologie ist das Instrument in der Lage, hochwertige, zuverlässige Bilder zu produzieren, die für anspruchsvolle Analysen verwendet werden können.