Gebraucht HITACHI S-3500N #293737412 zu verkaufen

HITACHI S-3500N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das mittels Elektronenstrahlen hochauflösende Bilder von Oberflächenstruktur und Eigenschaften erzeugt. Es ist mit einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, die es dem Bediener ermöglichen, Materialien im Nanometermaßstab zu charakterisieren. S-3500N verwendet eine Elektronenquelle, die Strahlen im Bereich von 1 bis 30kV erzeugen kann und eine Mindestpunktgröße von 1,3 nm aufweist. Es verwendet eine Kreis-Feld-Abtasteinrichtung, um den Strahl auf verschiedene Punkte auf der Probenoberfläche umzulenken, wodurch sekundäre und rückgestreute Bilder erzeugt werden können. Die Probenstufe ist motorisiert und ermöglicht eine Probenbewegung über einen Bereich von 200u-200mm mit einer minimalen Probengröße von 0,08 mm. Es hat auch einen maximalen Probenkippbereich von +/- 55 Grad. Ein zusätzliches Probenmanipulationsmerkmal ist der 8-Positionen-EMS-Wechsler, der es ermöglicht, während eines SEM-Experiments bis zu 8 verschiedene Proben schnell zu wechseln. HITACHI S-3500N verfügt über einen Everhart-Thornley SE-Detektor mit einem Signal-Rausch-Verhältnis von 20:1 und einem Environmental Mapping System (EMS), mit dem der Bediener die Parameter jeder Probe schnell messen kann. Darüber hinaus steht eine Vielzahl von Zubehör zur weiteren Analyse zur Verfügung. Dazu gehören energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (WDS) -Detektoren, die es dem Benutzer gemeinsam ermöglichen, die Zusammensetzung der Oberflächenschicht einer Probe zu messen. Darüber hinaus ist S-3500N mit einer digitalen Bildverarbeitungseinheit mit einem integrierten Image Alignment Processor (IAP) ausgestattet. Diese fortschrittliche Maschine verfügt über Funktionen wie Bildnaht, Helligkeit und Kontrastverbesserung sowie Einzelfarbtransformationen, mit denen SEM-Bilder analysiert und interpretiert werden können. HITACHI S-3500N Rasterelektronenmikroskop ist ein fortschrittliches Werkzeug zur Analyse von Materialien und Eigenschaften im Nanometermaßstab. Dank seiner zahlreichen Anpassungen, Detektionssysteme und Prozessoren eignet sich dieses Gut gut für eine Vielzahl von Anwendungsbereichen wie Halbleiterforschung, Polymere, Mischfolien, -dünne Filme und Nanostrukturen.