Gebraucht HITACHI S-3500N #9046383 zu verkaufen

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ID: 9046383
SEM Resolution: 3.0nm at 25kV, secondary electron image 20nm at 3kV, secondary electron image 4.5nm at 25kV, backscattered electron image Magnification: x15 - x300,000 (65 steps) Accelerating voltage: 0.3 - 30kV Variable pressure range: 1 - 270Pa High and low vacuum operation Backscatter electron detector Energy Dispersive X-ray (EDS) Orientation Imaging Microscopy (OIM) Tungsten filaments Optics: Filament – pre-centered tungsten hairpin Gun bias – self bias and continuously variable bias Accelerating voltage: 10-30 kV Emission current: 10-12 to 10-7 Gun alignment: 2-stage electromagnetic alignment Condensers lens: 2-stage electromagnetic condenser Objective lens: super conical lens Objective lens aperture: 4 opening moveable aperture Stigmator coil: 8-pole electromagnetic X/Y correction for astigmatism Image shift: +/- 20 microns or more (for working distance 15 mm) Specimen stage: Large-size eucentric stage Movement range: 80mm x 40 mm Tilt angle: 0° to +60° Rotation angle: 360° Image Display: Secondary electron Scanning modes: TV scan, slow scan (4 steps), selected area scan, waveform, photo scan (4 steps), split screen and dual screen Data display: accelerating voltage, magnification, micron scale, micron value, film number, working distance, value, time/date, photo magnification, detector Data entry; input through full key board (alphabetic characters numerics and symbols) Graphic input: straight lines, circles arrows etc. Image memory: Display (640 x480) High resolution (1280 x 960) Ultra-high resolution (2560 x 1920) Computer system: Hitachi soft-ware on Compaq PC with Windows 95, Pentium 160 MB processor Hitachi software Quartz PCI – imaging program Auxiliary computer for EDS system – Dell, Intel Pentium Two direct drive vacuum rotary vacuum pumps – Hitachi brand Type VR16LPP 50 Hz, 60 Hz Displacement 140, 160l/min Ultimate pressure – 10-2 Pa 6W Infared Chamberscope Components: EDS system: PGT OPH045-1038 Backscattered detector BSD system: Robinson Computer system uses zip drives for downloading data, not USB Original manuals and two Wehnelt cylinders.
HITACHI S-3500N Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes Instrument, das eine hohe Genauigkeit und Auflösung für die Analyse unterschiedlichster Materialien bietet. Es ist in der Lage, detaillierte Bilder von organischen und anorganischen Proben bei Vergrößerungen von bis zu 100.000 Mal zu erzeugen. Das Mikroskop ist mit einem automatisierten Navigationssystem und einer niederenergetischen Umweltkammer konzipiert, die eine hochauflösende Vereinfachung und Analyse auch komplexer Proben ermöglicht. Mit Elektronenoptik und einem eingebauten energiedispersiven Röntgendetektor bietet S-3500N unübertroffene Präzision und Abtastgeschwindigkeit in hellen und dunklen Feldern. Die Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM) ermöglicht eine komfortable Erkennung von Lichtelementen und strukturellen Merkmalen. Darüber hinaus kann das Mikroskop kontrastreiche, rauscharme Bilder auch von kompliziertesten Nanostrukturen aufnehmen. HITACHI S-3500N Modell ist auch in der Lage, bildgebende und analytische Aufgaben in negativen Färbung, Hochvakuum, Dehydrierung und spezielle gasförmige Atmosphären. Es ist mit einem speziellen Gaseinlassmerkmal gebaut, das die kontrollierte Einleitung verschiedener Gasarten in die Probe ermöglicht. Dieses Merkmal ermöglicht in Kombination mit dem Detektordesign die Erzeugung analytischer Informationen über Spurenelemente oder lokale Dotierstoffe in Epitaxieschichten, Isolatoren und Halbleitern. S-3500N ist ein benutzerfreundliches Instrument mit intuitiven grafischen Benutzeroberflächen. Die eingebettete Anwendungssuite umfasst Komponenten für die Echtzeit-Prozessüberwachung, Bildmessungen, Einzelteilchenanalysen, spektrale Bildgebung, Egun-Selektor und mehr. Darüber hinaus können Benutzer über die USB-Schnittstelle des Bereichs eine Verbindung zu einer Reihe von externen Geräten herstellen, was die gleichzeitige Erfassung von Bildern und Daten aus mehreren Quellen ermöglicht. Insgesamt ist das HITACHI S-3500N Rasterelektronenmikroskop ideal für Anwendungen wie biomedizinische Forschung, Halbleitertechnik, Mikrofabrikation und Mikroskopie. Seine leistungsstarken bildgebenden und analytischen Fähigkeiten machen es zum idealen Werkzeug für diejenigen, die nach hochwertigen, genauen Daten und Ergebnissen suchen.
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