Gebraucht HITACHI S-3500N #9194718 zu verkaufen

HITACHI S-3500N Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsfähiges und flexibles Werkzeug für wissenschaftliche Forschung. Diese Mikroskopieausrüstung verwendet einen Elektronenstrahl anstelle von Licht, um ein Bild zu erzeugen. Es ist ein industrielles Instrument, das hochauflösende Bilder von mikroskopischen Proben mit einer Vergrößerung von bis zu 5000x erzeugen kann. S-3500N ist für eine breite Palette von Probengrößen, Materialien und Formen ausgelegt. Die Kammer kann Proben bis zu 65 mm Durchmesser und 45 mm Höhe aufnehmen. Die Ausrichtung der Probe wird durch Stufeneinstellung von bis zu 4 ° unterstützt. Die Probe Probenkammer ist mit einem variablen Druck SEM (VP-SEM) ausgestattet, der einen Niedervakuumbetrieb ermöglicht und die Auflösung von Bildern verbessert. Die bildgebende Leistung dieses Systems wird durch eine Reihe von Funktionen unterstützt, wie fortschrittliche Signalverarbeitungstechnologien und verbesserte Signalerkennungen. Dazu gehören ein breites Spektrum von Elektronensignaltypen, darunter ein sekundärer Elektronenbildmodus, rückgestreute Elektronenbildgebung und Röntgensignaldetektion. Das Gerät verfügt außerdem über einen hochpräzisen BSE-Detektor mit einer Detektorbeschichtung und einer ultrahochauflösenden CCD-Kamera. Diese Maschine ist auch mit einem zweiachsigen ESEM ausgestattet, das sowohl Neigungs- als auch Drehfunktionen ermöglicht. Die Neigungs- und Drehfunktionen ermöglichen die Sammlung mehrerer Bilder mit unterschiedlichen Perspektiven in einem einzigen Scan mit hoher Auflösung. Die Topographie der Probe kann auch bei geringen Vergrößerungen aufgezeichnet werden. Darüber hinaus verbessert der Dual-Function-Imaging-Modus die Bilder erheblich und ermöglicht 3D-Beobachtungen. HITACHI S-3500N ist auch in der Lage, eine breite Palette von qualitativen und quantitativen Analysen durchzuführen, einschließlich automatisierter Bildidentifikation und -analyse, Partikelgrößenanalyse und Elementaridentifikation. Die integrierte Analysesoftware ermöglicht eine leistungsstarke zerstörungsfreie Bildanalyse, wie z.B. die Segmentierung, Erkennung, Messung und Integration von Bildern im Feinmaßstab. Dieses Mikroskop wurde auch entwickelt, um den Sicherheitsbedürfnissen einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen gerecht zu werden. Einige bemerkenswerte Sicherheitsmerkmale umfassen Hochspannungssicherheitsverriegelungen und Grenzschalter, Soft-Start-Elektronenstrahlemission und eine Vielzahl von Speicherfunktionen.