Gebraucht HITACHI S-3500N #9242550 zu verkaufen

HITACHI S-3500N Scanning Electron Microscope bietet High-End-Bildgebungsleistung, die es Forschern und Ingenieuren ermöglicht, sehr kleine Partikel mit beispielloser Genauigkeit zu visualisieren und zu analysieren. Seine Strahlkombinationstechnologie bietet überlegene Bildklarheit und -auflösung und ermöglicht es Benutzern, Proben hautnah und detailliert zu betrachten. S-3500N verfügt auch über eine Vielzahl von digitalen Bildgebungsfunktionen, darunter automatisierte Bildgebung, intelligenter Strahl, Bildnähte, 3D-Rekonstruktion und vieles mehr. HITACHI S-3500N verwendet eine Schimidt-Kamera, um seine gesamte Bildleistung zu erhalten. Dies ist eine spezielle Art der bildgebenden Methode, die extrem genaue Bilder mit einer höheren Leistung als herkömmliche SEMs erzeugt. Es verwendet eine Kombination von Rasterelektronenstrahlen, um sowohl 8 als auch 12 Bit-Detektion zu ermöglichen, was eine unglaublich hohe Auflösung von bis zu 5 Milliarden Punkten pro Zoll (5 Nanometer) ergibt. Dies bedeutet, dass Benutzer sehr feine Details in der Probe überprüfen können. S-3500N verwendet fortschrittliche Optik, um einen höheren Kontrast und eine höhere Helligkeit zu bieten, perfekt für die Untersuchung anspruchsvoller Materialien wie Halbleitermaterialien oder Kohlenstofffasern. Mit einem großen Sichtfeld von bis zu 18cm2 und hochauflösenden Bildern können Benutzer problemlos Details komplexer Strukturen erfassen. Eines der Highlights dieses Rasterelektronenmikroskops ist seine Fähigkeit, die Oberflächentopographie auf Nanometerebene genau zu messen. Dies kann sehr nützlich sein, um zuverlässige Messdaten für sehr kleine Proben zu erhalten. Es verfügt über automatische Pegelkorrektur und Korrekturalgorithmen, um genaue Messungen sicherzustellen. HITACHI S-3500N ist auch mit der neuesten Smart SEM-Technologie ausgestattet, um maximale Effizienz und Komfort zu gewährleisten, so dass Benutzer Workflow-Prozesse automatisieren können. Dazu gehören eine intuitive Benutzeroberfläche, eine automatisierte Musterpositionierung und eine automatisierte Bildnaht. Mit seiner erweiterten SEM-Programmierfähigkeit können S-3500N auch für erweiterte Funktionen wie 3D-Rekonstruktion und automatisierte Verarbeitung verwendet werden. Insgesamt ist HITACHI S-3500N Scanning Electron Microscope ein unglaublich leistungsfähiges Werkzeug für Forscher und Ingenieure, das ihnen die Möglichkeit gibt, sehr kleine Partikel mit beispielloser Genauigkeit analysieren zu können. Es bietet erweiterte Bildgebungsfunktionen und ermöglicht es Benutzern, einen detaillierten Blick auf Proben mit höherer Auflösung und Kontrast zu erhalten. Es verfügt auch über eine Vielzahl von Automatisierungsfunktionen, um komplizierte Aufgaben zu erleichtern.