Gebraucht HITACHI S-3500N #9291860 zu verkaufen

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ID: 9291860
Scanning Electron Microscope (SEM) Nitrogen-cooled by EDAX No cooling unit Scintillator damaged Operating system: Windows XP Resolution: Secondary electron image: 3.0 nm (High vacuum mode) Backscatter electron image: 5.0 nm (Variable print mode, Robinson BSED), 4.0 nm (Variable print mode, YAG BSED) Magnification: 15x to 300000x (65 Steps) Includes: SE BSE ESED EDX Detectors Infrared sample room camera Backing pumps Compressor Electron optics: Filament: Pre-centered tungsten hairpin type Gun bias: Self-bias and stepless bias Frame memory: 2560 x 1920 Pixels.
HITACHI S-3500N ist ein weit verbreitetes hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Anwendungen in der akademischen und industriellen Forschung entwickelt wurde. Es ist mit einer Reihe von Merkmalen ausgestattet, die es ideal für die Untersuchung der Mikrostruktur einer Vielzahl von Materialien, einschließlich Metalle, Polymere, Keramik und Verbundwerkstoffe machen. Die Hauptfunktion von S-3500N SEM besteht darin, Bilder von Oberflächen mit einer Auflösung von bis zu 2,5nm zu erzeugen. Das SEM verwendet einen Wolframfaden, um den Elektronenstrahl zu erzeugen, der auf die zu analysierende Probe fokussiert wird. Anschließend wird die Probe über die Betrachtungsstufe abgetastet, wobei die rückgestreuten oder sekundären Elektronen gesammelt und von einem Elektronendetektor detektiert werden. Mit dem SEM kann das Bild bis zu 30kx vergrößert werden. HITACHI S-3500N ist außerdem mit einem energiedispersiven Röntgendetektor (EDS) ausgestattet, der eine elementare Analyse der zu analysierenden Probe ermöglicht. Dieser EDS-Detektor ist in der Lage, eine Vielzahl von Elementen zu detektieren, darunter leichte Elemente wie Bor und Chlor sowie schwere Elemente wie Uran und Blei. Anhand der elementaren Analyseinformationen werden dann elementare Karten erstellt, mit denen Forscher weitere Einblicke in das Material gewinnen können. S-3500N verfügt auch über eine Reihe von automatisierten Funktionen wie automatisierte Fokussteuerung und Stufenkippkorrektur, die es dem Benutzer ermöglicht, schnell klare Bilder zu erhalten. Das SEM verfügt auch über einen Auto-Stigmator, der eine genaue und präzise Bildgebung ermöglicht. Das beste Merkmal von HITACHI S-3500N SEM ist seine Fähigkeit, extrem hochauflösende Bilder mit geringem Rauschen zu erstellen. So erhalten Forscher wertvolle Einblicke in die Mikrostruktur von untersuchten Materialien. Das SEM hat auch eine benutzerfreundliche Oberfläche, die es einfach zu bedienen macht. Abschließend ist S-3500N ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das sich ideal für die Analyse der Mikrostruktur verschiedener Materialien eignet. Es ist mit einer Reihe von Funktionen ausgestattet, darunter ein automatisiertes Fokus- und Stufenkorrektursystem, ein energiedispersiver Röntgen- (EDS) -Detektor für Elementaranalyse und ein Auto-Stigmator für genaue und präzise Bildgebung. HITACHI- S-3500N können Bilder mit einer Auflösung von bis zu 2,5 nm erstellen, was es zu einem perfekten Werkzeug für Forscher macht, die nach detaillierten Ergebnissen suchen.
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