Gebraucht HITACHI S-3500N #9411750 zu verkaufen

HITACHI S-3500N ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das für Analysten, Forscher und Wissenschaftler im nanoskaligen Bereich entwickelt wurde. Es ist in der Lage, Vergrößerungen bis 800kX zu erzielen und hat eine maximale theoretische Auflösung von 1,4 nm im herkömmlichen Scanmodus. S-3500N eignet sich ideal für Proben in einer Vielzahl von Bereichen, einschließlich Halbleiter-, Datenspeicher- und Life-Sciences-Anwendungen. Das SEM arbeitet mit einem hochauflösenden, energiedispersiven Röntgendetektor, der in eine Standardausstattung integriert wurde. Das Mikroskop ist in der Lage, hochauflösende Bilder von Proben zu erzeugen und kann Partikel bis zu 0,037 nm detektieren. Es verwendet einen Backscatter-Detektor zur Erzeugung kontrastreicher Bilder und ist mit einer verbesserten Niederspannungs-Primärkanone ausgestattet, die in der Lage ist, Proben mit einer niedrigen Laderate zu erfassen und ein helles, hochwertiges Bild zu liefern. HITACHI S-3500N bietet auch ein automatisiertes Ausrichtsystem, das eine einfache Probenvorbereitung für das Scannen ermöglicht. Das Mikroskop ist in der Lage, die Ausrichtungsparameter automatisch einzustellen und eventuell vorhandene Oberflächenverzerrungen in der Probe auszugleichen. Dadurch wird sichergestellt, dass das Bild so genau und klar wie möglich ist. Darüber hinaus kann das Mikroskop eine Vielzahl von Informationen über die Probe sammeln, einschließlich Zusammensetzung, Oberflächentopographie und dreidimensionale Struktur. S-3500N ist auch mit einer Vielzahl von Betriebsarten und Funktionen ausgestattet, so dass der Benutzer die Parameter leicht anpassen kann, um das bestmögliche Bild aus der Probe zu erhalten. Es verfügt auch über eine Arbeitsabstandsüberwachung, um den Benutzer über mögliche Kollisionen während des Betriebs zu warnen und so einen sicheren und präzisen Betrieb zu gewährleisten. Zur einfachen Bedienung und Wartung ist HITACHI S-3500N zudem mit einer automatisierten Probenladeeinheit und einer Vielzahl von Diagnoseüberwachungsfunktionen ausgestattet. Das SEM enthält auch eine Mikrograph-Betrachtungssoftware, mit der der Benutzer Bilder direkt am Mikroskop schnell analysieren und manipulieren kann. Darüber hinaus umfasst das Mikroskop eine Vielzahl anpassbarer Benutzerprofile, mit denen Benutzer das Mikroskop auf ihre spezifischen Anforderungen konfigurieren können. Insgesamt ist S-3500N ein zuverlässiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hervorragende Bildqualität und modernste Funktionen bietet. Es ist ideal für Forscher und Wissenschaftler in einer Vielzahl von Bereichen und bietet eine automatisierte Probenlademaschine, eine breite Palette von Betriebsarten und ein automatisiertes Ausrichtungswerkzeug für die präzise Abbildung von nanoskaligen Proben.