Gebraucht HITACHI S-3700N #293648335 zu verkaufen

HITACHI S-3700N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das es Anwendern ermöglicht, Proben bei hoher Vergrößerung zu studieren. Es liefert Bilder einer Probe durch einen Elektronenstrahl, der über die Oberfläche der Probe scannt. Die mit HITACHI S 3700 N mögliche Vergrößerung kann 3.000.000x erreichen, was ideal für die Untersuchung mikroskopischer Strukturen ist. Das Gerät umfasst die SEM-Haupteinheit und die Probenstufe, die unter der Einheit montiert ist. Die SEM-Einheit verfügt über eine programmierbare Steuerung, Elektronenkanone und Detektoren sowie ein Hauptbedienfeld mit Bedienungs- und Anzeigetafeln. Die Probenstufe ist für eine Reihe von Probentypen ausgelegt, einschließlich flacher Proben, Partikel und fester Proben, indem die Probenhöhe kontrolliert wird. Außerdem weist die Probenstufe eine variable Druckkammer für Vakuumanwendungen und eine variable Winkelstufe für gekippte Betrachtung auf. Der von S-3700N erzeugte Elektronenstrahl wird vom Hauptbedienfeld gesteuert. Der Strahl stellt die Auflösung, Vergrößerung und Kontrast des Bildes sowie die Anzahl der abgetasteten Zeilen, die Abtastgeschwindigkeit und die Geschwindigkeit, mit der das Bild erzeugt wird, ein. Durch die Steuerung dieser Parameter kann der Strahl für verschiedene Probentypen optimiert werden. Auch das Detektorsystem der S 3700 N ist hochempfindlich. Der Detektor kann Elektronen detektieren, die durch die Oberfläche der Probe gestreut werden, was eine hochauflösende Abbildung ermöglicht. Die Energie der gestreuten Elektronen wird gemessen und auf elementare Zusammensetzung analysiert. Dies ermöglicht genauere Bildgebungs- und Analysefunktionen. HITACHI S-3700N verfügt auch über eine Vakuumisoliereinheit, die Luft aus der bildgebenden Umgebung eliminiert, was zu einer verbesserten Bildqualität führt. Die Maschine verfügt auch über ein Schwingungsisolationswerkzeug, das die Bewegung begrenzt und die Probenintegrität verbessert. Insgesamt ist HITACHI S 3700 N ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das sowohl für die wissenschaftliche als auch für die industrielle Forschung gut geeignet ist. Seine fortschrittliche Elektronenoptik und Detektorsysteme, gepaart mit seiner hohen Auflösung und Vergrößerung Fähigkeiten, machen es eine ausgezeichnete Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen.