Gebraucht HITACHI S-3700N #293748677 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
ID: 293748677
Weinlese: 2012
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
2012 vintage.
HITACHI S-3700N ist ein anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die hochauflösende Bildgebung und Analyse verschiedener Materialien auf nanoskaliger Ebene. Dieses leistungsstarke Instrument ist mit fortschrittlichen Funktionen und Fähigkeiten ausgestattet, die es ideal für Forschung und Entwicklung in einer Vielzahl von Bereichen, einschließlich Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Biologie und mehr machen. In dieser umfassenden technischen Beschreibung untersuchen wir die wichtigsten Komponenten, Spezifikationen und Anwendungen von HITACHI S 3700 N SEM. Schlüsselkomponenten und Funktionsprinzipien: S-3700N verfügt über eine Hochleistungs-Elektronensäule, die einen fokussierten Elektronenstrahl für die Abbildung von Proben mit außergewöhnlicher Klarheit und Auflösung erzeugt. Die Elektronensäule besteht aus einer Wolfram-Filament-Elektronenkanone, Kondensatorlinsen und Abtastspulen, die die Position und Bewegung des Elektronenstrahls über die Probenoberfläche steuern. Herzstück des SEM ist das Elektronendetektorsystem, das die Elektronen erfasst, die mit der Probe interagieren, um hochauflösende Bilder zu erzeugen. S 3700 N ist mit fortgeschrittenen Sekundärelektronen und rückgestreuten Elektronendetektoren ausgestattet, die detaillierte Informationen über die Topographie, Zusammensetzung und Morphologie der Probe im Nanoskalibereich liefern. Das Mikroskop beinhaltet auch eine Präzisionsstufe für genaue Probenpositionierung und -navigation, mit der Benutzer mehrere interessante Bereiche mit Präzision und Effizienz analysieren können. Darüber hinaus ist das Instrument mit fortschrittlicher Bildgebungs- und Analysesoftware ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, SEM-Bilder einfach zu erfassen, zu verarbeiten und zu analysieren. Spezifikationen und Leistung: HITACHI S-3700N SEM bietet beeindruckende Spezifikationen, die es zu einem vielseitigen Werkzeug für erweiterte Forschungs- und Entwicklungsanwendungen machen. Das Mikroskop verfügt über eine maximale Beschleunigungsspannung von bis zu 30 kV und ermöglicht eine hochauflösende Abbildung unterschiedlichster Materialien, von Metallen und Keramiken bis hin zu biologischen Proben und Polymeren. Mit einer maximalen Vergrößerung von bis zu 500.000x kann HITACHI S 3700 N detaillierte Bilder von nanoskaligen Merkmalen und Strukturen mit außergewöhnlicher Klarheit und Präzision aufnehmen. Das Instrument bietet auch eine breite Palette von bildgebenden Modi, einschließlich sekundärer Elektronenbildgebung, rückgestreuter Elektronenbildgebung und kompositorischer Abbildung, so dass Benutzer umfassende Informationen über die zu untersuchende Probe erhalten können. Darüber hinaus verfügt S-3700N über erweiterte Funktionen zur Strahlsteuerung und Navigation, einschließlich Spotgrößenkontrolle, Scan-Rotation und dynamische Fokusanpassungen, sodass Benutzer Bildgebungsparameter für verschiedene Probentypen und Analyseanforderungen optimieren können. Das Mikroskop verfügt zudem über eine intuitive Benutzeroberfläche, die die Bedienung und Datenerfassung vereinfacht und somit ideal für Anfänger und erfahrene Benutzer geeignet ist. Anwendungen und Forschungsbereiche: S 3700 N SEM wird in einer Vielzahl von Forschungsbereichen und Anwendungen eingesetzt, darunter Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Geologie, Biologie und Forensik. Forscher und Wissenschaftler setzen auf das Instrument, um die Mikrostruktur und Eigenschaften von Materialien zu untersuchen, die Morphologie von Nanopartikeln und Nanostrukturen zu untersuchen, biologische Proben auf zellulärer und subzellulärer Ebene zu analysieren und elementare Zusammensetzungsanalysen verschiedener Materialien durchzuführen. In der Materialwissenschaft wird HITACHI S-3700N eingesetzt, um die Mikrostruktur von Metallen, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen zu untersuchen und so den Zusammenhang zwischen Struktur und Eigenschaften in Materialien zu verstehen. In der Nanotechnologie wird das Mikroskop eingesetzt, um Nanomaterialien und Nanostrukturen für verschiedene Anwendungen wie Elektronik, Katalyse und Arzneimittelabgabe zu charakterisieren. In der Biologie wird HITACHI S 3700 N verwendet, um biologische Proben, einschließlich Zellen, Gewebe und Organismen, zu untersuchen, um biologische Prozesse, zelluläre Strukturen und Krankheitsmechanismen auf der Nanoskala zu untersuchen.Forensiker nutzen das SEM auch zur Analyse von Spurenbeweisen wie Fasern, Partikeln und Werkzeugmarken, um strafrechtliche Ermittlungen und Gerichtsverfahren zu unterstützen. Abschließend ist S-3700N Rasterelektronenmikroskop ein leistungsstarkes und vielseitiges Instrument, das hochauflösende Bildgebung, erweiterte analytische Fähigkeiten und intuitive Bedienung für eine breite Palette von Forschungs- und Entwicklungsanwendungen bietet. Mit seinen beeindruckenden Spezifikationen, Leistungen und Anwendungen ist S 3700 N ein unschätzbares Werkzeug für Wissenschaftler, Forscher und Ingenieure, die die Nanowelt erkunden und die Grenzen von Wissen und Innovation vorantreiben wollen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor