Gebraucht HITACHI S-3700N #293794261 zu verkaufen

HITACHI S-3700N ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für seine hervorragende Leistung, hohe Vergrößerung und hervorragende Bildqualität bekannt ist. Dieses Instrument ist in der Lage, auch in schwierigen Probenumgebungen außergewöhnliche Bilder von feinsten Details zu liefern. Ausgestattet mit Elektronenstrahldetektoren, elektronenoptischen Objektiven, einem Bildanalysecomputer und einer großen, hochauflösenden Kamera ermöglicht HITACHI S 3700 N eine genaue Analyse von Proben unter verschiedenen Bedingungen. Der von der Hochspannungsquelle S-3700N emittierte Hochspannungselektronenstrahl wird durch ein Elektronendeflektorsystem moduliert. Dies ermöglicht die Erzeugung von Bildern von Mikrostrukturen bis zum Nanometerspiegel durch die Modulation von Elektronen. Das System ist auch mit Energiefiltern ausgelegt, die Probenschäden begrenzen und einen größeren Kontrast in den Bildern bieten. Die elektronenoptischen Linsen von S 3700 N können den Strahl auf die Probenoberfläche fokussieren, was ein stark vergrößertes Bild liefert. Dies wird durch den Einsatz eines In-Linsen-Detektors noch verstärkt, der eine Reihe von Vergrößerungen von bis zu 50.000 Mal ermöglicht. Zusätzlich können die In-Linsen-Detektoren bis auf wenige Nanometer feine Details erkennen. HITACHI S-3700N ist auch mit Sekundärelektronendetektoren (Slive) und einem Backscatter (Bsive) -Bilddetektor ausgestattet. Diese Detektoren ermöglichen die Darstellung von Bildern und Merkmalen, wie mikrostrukturalen Variationen, Korngrenzen und Rissen. Darüber hinaus ermöglicht der Bsive Detektor eine größere Palette von Vergrößerungen, ohne dass zusätzliche Linsen benötigt werden. Ein Bildanalysecomputer ist an HITACHI S 3700 N angeschlossen, um hochauflösende Bilder in Echtzeit analysieren zu können. Damit können verschiedene Merkmale wie Oberfläche, Volumen, Porosität und Anzahl der Partikel gemessen werden. Der Bildanalysecomputer ist in der Lage, detaillierte grafische Daten aufzuzeichnen sowie quantitative Berichte zur weiteren Analyse zu erstellen. Schließlich ist S-3700N mit einer großen, hochauflösenden Kamera ausgestattet. Dies ermöglicht dem Benutzer, detaillierte Fotos und Videos von Proben zu machen, so dass er die Ergebnisse schnell und genau interpretieren kann. Abschließend ist das S 3700 N Rasterelektronenmikroskop ein leistungsstarkes Instrument, das außergewöhnliche Leistung, bildgebende Qualität und hohe Vergrößerung bietet. Mit seinen verschiedenen Detektoren und Bildanalysecomputer ist HITACHI S-3700N in der Lage, Proben so klein wie wenige Nanometer zu analysieren. Dies macht es zu einem idealen Werkzeug für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen.