Gebraucht HITACHI S-3700N #293797824 zu verkaufen

HITACHI S-3700N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die hochauflösende Submikronbildgebung. Es verfügt über ein thermisch und vibrationsstabiles, ultrahohes Vakuumsäulendesign, das sich ideal für die Auflösung von Mikrometern und Submikronen eignet. Dieses SEM verwendet klassische Backscatter- und Sekundärelektronendetektoren, die optimiert sind, um einen maximalen Bildkontrast und eine maximale Bildauflösung zu ermöglichen. HITACHI S 3700 N nutzt digitale Bildverarbeitungsfunktionen, um zusätzlichen Bildkontrast und Farbverbesserung zu bieten. S-3700N ist auch mit einer hohen Beschleunigungsspannung ausgelegt, so dass es höhere Auflösung Bilder ohne das Risiko der Beschädigung empfindlicher Proben zu erreichen. Seine Hochspannungs-Bildgebungsfunktionen sowie rauscharme Leistung und fortschrittliche digitale Bildverarbeitung ermöglichen es ihm, hochdetaillierte Bilder verschiedener Arten von Materialien zu erfassen. S 3700 N verfügt außerdem über eine automatisierte Stufenoption, um den Erfassungsprozess von Topographien zu erleichtern. Diese Funktion ermöglicht es Benutzern, schnell große Bereiche einer Probe mit weniger Benutzereingaben zu scannen. Das System verfügt zudem über eine automatisierte Fokusfunktion, die es dem Anwender ermöglicht, Bilder von kleineren biologischen oder chemischen Proben mit höheren Detailstufen zu erhalten. HITACHI S-3700N verwendet auch fortschrittliche Bildgebungstechniken, wie die Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM), um in bestimmten Proben zusätzlichen Kontrast zu bieten. Die Stehwellenmikroskopie ist auch für genaue Messungen der Oberflächenstruktur innerhalb einer Probe verfügbar. Die gleichzeitige Abbildung von SEM und STEM ermöglicht es dem Anwender, schnell und einfach topographische und kompositorische Bilder derselben Probe zu erfassen. Für zusätzliche Komfortfunktionen ist HITACHI S 3700 N mit einer verbesserten Performance-Kamera ausgestattet, die sowohl Dunkelfeld- als auch Hellfeldbilder aufnehmen kann. Die fortschrittliche Software bietet benutzerfreundliche grafische Benutzeroberflächen (GUIs) zur Organisation und Analyse von erfassten Daten. Die Systemsoftware ist auch in der Lage, die Datenanalyse und -verarbeitung zu automatisieren, so dass Anwender Proben effizient analysieren können. S-3700N ist weit verbreitet in Bereichen wie Fehleranalyse, Halbleiterbauelementanalyse, Materialwissenschaft und biologische Forschung. Mit seinen fortschrittlichen bildgebenden Funktionen und fortschrittlicher Software ist S 3700 N ein ideales Werkzeug für Forscher in diesen Studienbereichen.