Gebraucht HITACHI S-3700N #9350985 zu verkaufen

HITACHI S-3700N ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, visuelle Bilder ultrafeiner Details mit einer Auflösung von 0,5 Nanometern zu erzeugen. Es verwendet eine leistungsstarke Elektronenkanone, um einen fokussierten Elektronenstrahl zu emittieren, der über eine Probenoberfläche scannt, wodurch ein hochauflösendes elektrooptisches Bild entsteht. HITACHI S 3700 N kommt mit einer Mehrsammlercomputerkontrollausrüstung und einer Vielfalt von Softwarepaketen, um genaue, klare Bilder zu sichern. Dieses SEM verwendet eine 0,3 mm Fokussieröffnung in Kombination mit einer Stufe mit variablem Druck (VP) zur variablen Druckprobenmanipulation. Die variable Druckstufe ermöglicht es dem Benutzer, die Exposition der Probe gegenüber dem Elektronenstrahl einzustellen, um unterschiedliche Tiefen und Detailtiefen zu beobachten. S-3700N ist auch zur sekundären Elektronenbildgebung (SEI) und zur In-Linsen-Detektion (ILD) fähig. SEI erzeugt hochauflösende Oberflächendetailbilder durch Detektion von Elektronen, die von Merkmalen auf der Probenoberfläche reflektiert werden. ILD erzeugt Bilder von Oberflächenmerkmalen bis zu 10 nm. S 3700 N ist mit einem automatisierten Scankontrollsystem ausgestattet, mit dem Benutzer ihren bevorzugten Scanmodus, ihre Vergrößerung und ihre Belichtungszeit auswählen können. Dieses Gerät kann je nach Bedarf des Benutzers entweder statische (feste) oder dynamische (einstellbare) Bildauflösungen erzeugen. Das SEM umfasst auch eine automatisierte Fokussiermaschine und kann bis zu 15 Vergrößerungseinstellungen speichern. HITACHI S-3700N benötigt eine Hochvakuumumgebung und eine temperaturgesteuerte Umgebung, um effektiv Bilder zu erzeugen. Seine maximale Beschleunigungsspannung ist 30kV und es ist in der Lage, Bilder von Proben zwischen 1mm und 3mm in der Größe zu erzeugen. Darüber hinaus kann das Mikroskop sowohl organische als auch anorganische Proben unterschiedlicher Materialien, einschließlich Metalle und Legierungen, handhaben. HITACHI S 3700 N bietet die Möglichkeit einer Vielzahl von Bildanalyse-Softwarepaketen, mit denen Winkel, Bereiche und Entfernungen gemessen werden können. Merkmale wie automatisiertes Zählen, automatisierte Mustererkennung und automatisierte 3D-Rekonstruktion erhöhen das Potenzial des Mikroskops für eine detaillierte Analyse weiter. Diese Merkmale können Informationen über die Oberflächenzusammensetzung, Struktur und Elektronendiffusion liefern. Insgesamt ist S-3700N ein außergewöhnlich ausgestattetes SEM mit einem leistungsstarken Elektronenstrahl, Multicollection Computer Control Tool und einer Vielzahl von Bildanalysesoftware. Es kann hochauflösende Bilder von Proben zwischen 1mm und 3mm in der Größe produzieren, und es hat die Fähigkeit, Winkel, Bereiche und Abstände zu analysieren, sowie automatisierte 3D-Rekonstruktion. Dieses SEM ist ideal für Forscher und Fachleute, die ein leistungsfähiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop suchen.