Gebraucht HITACHI S-4000 #52380 zu verkaufen

HITACHI S-4000
ID: 52380
FE SEM's.
HITACHI S-4000 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Erzeugung hochauflösender Bilder sowohl organischer als auch anorganischer Proben entwickelt wurde. Das Mikroskop besteht aus einer Elektronenquelle, einer elektrooptischen Einrichtung, einer Elektronensäule und einer Vakuumkammer, in der die Probe untergebracht ist. Die Elektronenquelle erzeugt einen Elektronenstrahl mit sehr kleiner Punktgröße und hoher Helligkeit. Das elektrooptische System verwendet Linsen, Blenden und Ablenker, um den Elektronenstrahl zu formen, zu fokussieren und zu lenken. Die Elektronensäule beschleunigt die Elektronen, die durch eine Probe laufen, und erzeugt Sekundärelektronen zur Sammlung und Abbildung. Das SEM erzeugt klare Bilder der Probe, indem es ein rastergescanntes Bild des durch die Probe hindurchtretenden Elektronenstrahls erzeugt. Je nach verwendetem Vergrößerungsmodus kann das Bild bis zu 500.000x vergrößert werden. Die Probe kann in hoher Auflösung und Kontrast betrachtet werden, wodurch feine Details und Texturen sichtbar werden. Zur Charakterisierung der Probe können verschiedene Abbildungsmodi verwendet werden, darunter rückgestreute Elektronen (BSE), Sekundärelektronen (SE), Kombination von BSE und SE (BSEC), Transmissionselektronen (TE) und Differenzkontrast (DC). HITACHI S4000 hat auch eine Reihe von Probenvorbereitungs- und bildgebenden Funktionen. Das Mikroskop hat eine breite Palette von Neigungs- und Bühnenwinkeleinstellungen, so dass Bilder über einen weiten Bereich von Winkeln aufgenommen werden können. Die Stufe weist außerdem einen kritischen Punktetrockner auf, der die Verdampfung von Lösungsmitteln aus Tauchproben während der Bildgebung ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über eine hochauflösende Digitalkamera und eine Probenkammer, die die Aufnahme und Analyse von Bildern mit höchster Wiederherstellung und Genauigkeit ermöglicht. Bei der Datenanalyse ermöglicht S 4000 die genaue Messung und Charakterisierung von Probenmerkmalen. Die Messung von Merkmalsgröße, Formen, Rauheit und anderen Eigenschaften kann mit der Bildanalysesoftware durchgeführt werden. Ferner weist das Mikroskop eine 3D-Abbildungseinheit auf, die die Abbildung dreidimensionaler Strukturen ermöglicht. Diese Maschine ist nützlich, um Oberflächenfehler und andere strukturelle Anomalien zu erkennen. Zusammenfassend ist S-4000 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit Funktionen, die die Abbildung organischer und anorganischer Proben mit höchster Auflösung und Genauigkeit ermöglichen. Das Mikroskop verfügt über eine Reihe von bildgebenden Modi, Probenvorbereitungstechniken und Datenanalysefunktionen, die es zu einer idealen Wahl für fortgeschrittene Forschung und Entwicklung machen.
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