Gebraucht HITACHI S-4000 #9182088 zu verkaufen

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HITACHI S-4000
Verkauft
ID: 9182088
Weinlese: 1989
Scanning Electron Microscope (SEM) Upgraded to schottky thermal field emission Cold field Electron gun: Thermal field emission electron source Magnification: 20x to 300,000x Emission extraction: 0-7 kV Accelerating voltage: 0.5 to 30 kV (Variable in 10 V steps) Lens system: 2-Stage electromagnetic lens Objective aperture: Movable aperture (4 openings) with heater Display unit: Principle: Still image display With built in image memory at all scan speeds Viewing CRT: (2) Display monitors, 12" Image memory unit Scan speed: 0.25, 2, 10, 20 sec / Frame for photo recording mode Vac pumps: (3) Ion pumps Diffusion pump Field emission gun missing 1989 vintage.
HITACHI S-4000 ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Probentypen ermöglicht. HITACHI S4000 verfügt über eine automatisierte Probenstufe, mit der eine Vielzahl von Probengrößen und Geometrien präzise und einfach positioniert und abgebildet werden können. Das Mikroskop ist in der Lage, Proben mit Nanometergenauigkeit und Vergrößerung bis zu 500,000X abzubilden. Die hochempfindliche und windstabile Elektronensäule von S 4000 ermöglicht eine hochzuverlässige Bildgebung, während die Aberrationskorrektortechnologie eine hervorragende Strahlstabilität bietet. Darüber hinaus verfügt HITACHI S 4000 über ein integriertes energiedispersives Spektrometriesystem (EDS), das eine anorganische Elementzusammensetzungsanalyse ohne Probenvorbereitung ermöglicht. S-4000 können auch Bilder in einer Vielzahl von Abbildungsmodi aufnehmen, einschließlich rückgestreuter Elektronenbildgebung, sekundärer Elektronenbildgebung und Bildgebung mit variablem Winkel in der Linse. Die rückgestreute Elektronenbildgebung ermöglicht es Benutzern, Oberflächen- und Unterflächenmerkmale einer Probe zu beobachten, während die sekundäre Elektronenbildgebung Informationen über Oberflächenmerkmale wie Korngrenzen, Kristallorientierungen und Grenzflächenstrukturen liefert. Der In-Linsen-Abbildungsmodus mit variablem Winkel eignet sich besonders zur Abbildung sehr kleiner Oberflächenmerkmale. S4000 umfasst auch eine breite Palette von Bildverarbeitungsmerkmalen, einschließlich einer Reihe von Signalverarbeitungssoftware und verschiedenen Bildverarbeitungswerkzeugen. Diese können verwendet werden, um die erzeugten Bilder zu verbessern, um kompliziertere Details aufzudecken. Um eine einfache Bedienung des Mikroskops zu gewährleisten, verfügt HITACHI S-4000 auch über einen umfassenden Satz ergonomischer Bedienfelder, die in rechten oder linken Konfigurationen erhältlich sind. Eine intuitive Benutzeroberfläche sowie automatisierte „Point and Click“ -Befehle ermöglichen eine einfache Bedienung und erweiterte Bildanalyse. Insgesamt ist HITACHI S4000 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das für Forschungs- und Bildungsanwendungen entwickelt wurde. Die automatisierte Probenstufe, die hochempfindliche Elektronensäule, die Bildverarbeitungsmodi, die Bildverarbeitungsfunktionen und die ergonomischen Bedienfelder machen es ideal für die Aufnahme und Analyse von Bildern mit erstaunlichen Details auf Nanometerebene.
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