Gebraucht HITACHI S-4100 #293634973 zu verkaufen

HITACHI S-4100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) von HITACHI High Technologies zur Mikroanalyse von Materialien. Es verfügt über eine Reihe von Funktionen und Beispielmanipulationsfunktionen, um Benutzern zu helfen, eine Vielzahl von Proben zu analysieren. S-4100 verfügt über eine beeindruckende Schärfentiefe und eine große Schärfentiefe, die die Analyse von Proben bei geringeren Vergrößerungen mit erweiterter Tiefe ermöglicht. Es hat auch sekundäre Elektronen (SE) und Rückstreuelektronen (BSE) bildgebende Fähigkeiten, so dass es Proben sowohl bei hohen als auch bei niedrigen kV Bedingungen analysieren kann. Das Mikroskop kommt auch mit Auto-Stigmation, die schnelle Strahlausrichtung und hochauflösende SE-Bildgebung erleichtert, auch mit kleinen und fahrzeuglosen Proben. Die Auto-Stig-Funktion hilft auch bei der Gewinnung von größeren Vergrößerungen auf SE-Bildern. HITACHI S-4100 bietet eine breite Palette von Funktionen und Funktionen, die den Prozess der Analyse von Proben einfacher und schneller machen. Es verfügt über ein Softwaresystem ScopeView, das eine effiziente und genaue visuelle Echtzeit-Inspektion sowohl nichtleitender als auch leitender Proben bietet. S-4100 umfasst auch eine vollautomatische, kippbare Probenstufe für die Bildgebung mit geringer Vergrößerung sowie eine einzigartige X-, Y-, Z-Kernstufe für die Ausrichtung und Positionierung von Proben für die Bildgebung bei hohen Vergrößerungen. Diese Kernstufe unterstützt auch EDS-Mapping und EDX-Elementaranalyse. Die magnetisch abgeschirmte HV-Kammer von HITACHI sorgt für einen stabilen Betrieb, auch bei der Einrichtung in Umgebungen, in denen das Mikroskop Vibrationen und Mikrofonik ausgesetzt ist. Es bietet auch Probenschutz vor der Hochspannung im Instrument. HITACHI S-4100 verfügt auch über eine Reihe fortschrittlicher Softwarefunktionen, mit denen Daten analysiert und Zeit gespart werden können, während Messungen durchgeführt werden. Diese Eigenschaften umfassen Digital Scanning, das analoge Signale in digitale Signale umwandelt, um Probendaten genau zu messen. Es verfügt auch über ein spiralförmiges Scan-KE, das durch Ändern der Scanparameter subtile Änderungen an Probenoberflächen erkennen kann. Insgesamt ist S-4100 ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop, das eine breite Palette von Funktionen, Fähigkeiten und Softwaresystemen bietet, die Anwendern helfen, ihre Mikroanalyse-Aufgaben schnell und präzise durchzuführen. Seine automatischen Funktionen und Kernstufen ermöglichen es Benutzern, hochauflösende Bilder bei niedrigen Vergrößerungen zu erfassen, während seine digitale Scan- und Helical-Scanning-Software genaue Messungen bietet. Die magnetisch abgeschirmte HV-Kammer sorgt zudem für stabilen Betrieb und Probenschutz vor der Hochspannung.