Gebraucht HITACHI S-4100 #8483 zu verkaufen

HITACHI S-4100
ID: 8483
FE SEM.
HITACHI S-4100 ist eine Art Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in Forschung, Industrie und Medizin eingesetzt wird. Dieses Rasterelektronenmikroskop ermöglicht es Forschern und Wissenschaftlern, Struktur, chemische Zusammensetzung und elektrische Eigenschaften einer bestimmten Probe in hoher Auflösung zu beobachten und zu analysieren. Neben der Verwendung in der Forschung können S-4100 für industrielle und medizinische Anwendungen wie die Inspektion von Materialien auf Herstellungsfehler, die Betrachtung und Untersuchung von Supercomplex-Gerätestrukturen und die Diagnose von Krankheiten eingesetzt werden. Im allgemeinen besteht das System aus einer Säuleneinheit, die die elektronenoptische Säule, eine Elektronenkanone, eine Probenstufe und eine Detektoreinheit ist. In der Säulenkammer wird Gas eingesetzt, um das notwendige Vakuum für den Elektronenstrahl zu erreichen. Die Elektronenkanone erzeugt die Elektronen, die dann durch die Beschleunigungsspannung beschleunigt und durch die Säule geleitet werden, wo sie mit der Probe interagieren und Sekundärelektronen erzeugen. Die Probenstufe ist ein beweglicher Halter der Probe, auf die der Elektronenstrahl fokussiert ist. Schließlich dient die Detektoreinheit zum Sammeln und Analysieren der resultierenden Signale aus der Wechselwirkung von Elektronenstrahl und Probe. HITACHI S-4100 ist mit zwei Abbildungsmodi ausgestattet, nämlich sekundärer Elektronenbildgebung (SEI) und rückgestreuter Elektronenbildgebung (BEI). SEI wird am besten für die Materialoberflächenprüfung und -analyse eingesetzt, bei der das Erscheinungsbild der Oberflächenmerkmale sichtbar ist. BEI wird zur Analyse kristallographischer Artefakte und zum Nachweis von Kontrast zwischen Materialien verwendet. Das System ist in der Lage, bei verschiedenen Vergrößerungen von 10 Megapixel bis 30 Megapixel-Ebene mit einer maximalen Auflösung von 12 Nanometern abzubilden. S-4100 ist auch mit einem automatisierten Fokussystem für den Hochgeschwindigkeits-Autofokus der Detektoren ausgestattet. Außerdem kann die Probenstufe für reproduzierbare Ergebnisse in einem wiederholbaren Experiment automatisiert und computergesteuert werden. Es stehen mehrere Regelmodi zur Verfügung, die je nach Anwendung angepasst werden können. Insgesamt bietet HITACHI S-4100 hervorragende Bildgebungs- und Analysefunktionen sowie Automatisierungs- und Computerfunktionen. Dies macht S-4100 ideal für Forschungs- und Industrieanwendungen in verschiedenen Bereichen.
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