Gebraucht HITACHI S-4100 #9093573 zu verkaufen
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ID: 9093573
Weinlese: 1993
Field Emission Scanning Electron Microscope
Acceleration voltage: 0.5 ~ 30kV
Magnification: 20 to 300,000 times
Sample size: φ100 × 23 (mm)
Rotation: 360°
Manual included
Image Processor (EP-3000)
Circulating cooling water system (W-4010)
Ion sputtering apparatus (E-1030)
Moving range: X: 0 ~ 25 (mm)
Y: 0 ~ 25 (mm)
Z: 5 ~ 30 (mm)
Inclination: -5 to + 45°
Optional: As accessory device
1993 vintage.
HITACHI S-4100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Bilder der Oberfläche einer Probe in hoher Auflösung erzeugt. Es ist ein vielseitiges Instrument, das eine breite Palette von Anwendungen für die Analyse der strukturellen, elektronischen und chemischen Komponenten von Materialien bietet. S-4100 ist ein modernes SEM, das aus einer Basiseinheit, Elektronensäule, Probenkammer und Ablenklinse besteht. Seine Elektronensäule hat zwei Hauptteile: eine Elektronenkanone und eine ablenkende Linse. Die Elektronenkanone erzeugt einen Elektronenstrahl, der dann beschleunigt und auf die Probenoberfläche fokussiert wird. Die Ablenklinse lenkt die Elektronen von der Probe ab und sammelt sie auf die Bildplatte, wodurch eine genaue Positionierung des Strahls ermöglicht wird. HITACHI S-4100 verfügt auch über eine Vielzahl von bildgebenden Funktionen, die eine detaillierte Analyse ermöglichen. Sein Sekundärelektron (SE) -Bildgebungsmodus erzeugt Bilder der Oberflächentopographie und -struktur, während sein rückgestreuter Elektronen (BSE) -Bildgebungsmodus Bilder der Zusammensetzung und Textur erzeugt. Sein energiedispersiver Röntgen- (EDX) Spektroskopie-Modus liefert detaillierte Informationen über die elementare Zusammensetzung der Probe. Darüber hinaus verfügt S-4100 über eine automatisierte Stufe für präzise bewegte Proben verschiedener Größen. Es ermöglicht die Verwendung verschiedener Kontrastmodi für verschiedene bildgebende Anwendungen. Es hat auch ein internes Vakuumsystem und Probenhalter, die eine schnelle und einfache Probenvorbereitung ermöglichen. Darüber hinaus ist es auch kompatibel mit einer Reihe von Zubehörteilen, wie einem fokussierten Ionenstrahl, der es erlaubt, dreidimensionale Strukturen genauer zu analysieren. HITACHI S-4100 verfügt zudem über eine automatisierte Zoomfunktion, die Präzisionsbilder einfacher macht als je zuvor. Insgesamt ist S-4100 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, ideal für eine Reihe von Forschungs-, Analyse- und bildgebenden Anwendungen. Seine hochmodernen Komponenten und bildgebenden Funktionen machen es perfekt, um die Produktivität zu maximieren und fortschrittliche Forschungsergebnisse zu entwickeln.
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