Gebraucht HITACHI S-4100 #9215897 zu verkaufen

HITACHI S-4100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Vielzahl von Funktionen in einer Vielzahl von Anwendungen bietet. Es verfügt über eine speziell entwickelte optische Säule sowie eine hochmoderne digitale Bildgebung und Bildverarbeitung. Es ist gut geeignet für eine Vielzahl von Aufgaben, einschließlich Oberflächentopographie, Kristallstruktur, Größe und Formbestimmung, Fehleranalyse und Fehleranalyse. Die modernste optische Säule von S-4100 besteht aus Field Emission Gun (FEG) und einer hohen Auflösung SEM Kondensatorlinsen, für das Elektronbalkenbeispielwechselwirkungsvolumen auszuwählen. Der FEG ermöglicht einen optimierten Elektronenstrahl bei jeder Beschleunigungsspannung bis 30 kV und eine hervorragende Lösung kleiner Merkmale und Details. Ein verbessertes Ausrichtungssystem verbessert die Leistung der SEM-Kondensatorlinsen weiter, indem es eine optimale Ausrichtung ohne Einstellelemente ermöglicht. HITACHI S-4100 ist mit einer breiten Palette von bildgebenden Optionen ausgestattet. Dazu gehören differentieller Bildkontrast (DIC), kombinierte Optoelektronenmikroskopie (OEM), sekundäre Elektronen (SE) -Bildgebung, rückgestreute Elektronen (BSE) und energiedispersive röntgenspektroskopische Analyse. Darüber hinaus werden spezielle bildgebende Verfahren wie Kristalline Beam Analysis (CBA), Backscattered Diagnostic Mode (BDM) und SynchroScan Secondary Electron Detection System (SSEDS) angeboten. Erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen werden auch mit S-4100 zur Verfügung gestellt. Diese ermöglichen Detailmessungen, kristallographische Inspektionen und die Erstellung von 3D-Rekonstruktionsbildern, mit denen die Charakterisierung von Bauteilen unterstützt werden kann. Eine in den Bildprozessor eingebaute 3D-Modellanlage ermöglicht die Visualisierung komplexer Materialien und Entitäten. Die Hochgeschwindigkeits-Ablenkfähigkeit von HITACHI S-4100 bietet eine Abtastrate von bis zu 600 mm/s, was zu einer schnelleren und schärferen Bildgebung als herkömmliche Scanverfahren führt. Auch können anpassbare Umweltkammern verwendet werden, um die zuverlässige und reproduzierbare Analyse von Proben in selbst den anspruchsvollsten Umgebungen zu gewährleisten. S-4100 wurde entwickelt, um den Anforderungen moderner Technik und Forschung gerecht zu werden. Es verfügt über eine einzigartige Kombination aus fortschrittlichen Bildgebungs- und ultraschnellen Scanfunktionen, leistungsstarken Bildverarbeitungsfunktionen und einer fortschrittlichen Optikkomponente, die es zur perfekten Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen macht.