Gebraucht HITACHI S-4160 #180092 zu verkaufen

HITACHI S-4160 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein fortschrittliches Bildgebungs- und Analysewerkzeug zur Bereitstellung detaillierter mikroskopischer Bilder einer Vielzahl von Probentypen. Das Gerät verwendet einen fokussierten Ionenstrahl, um die Oberfläche einer Probe zu scannen und ein vergrößertes digitales Bild zu erzeugen, das bis zu einer Million Mal mehr als ein tägliches Foto darstellt. Mit einer 5-105kV Elektronensäule verfügt HITACHI S 4160 über eine einzigartige Fähigkeit, die es ermöglicht, verschiedene Arten von Bildgebung und Analyse wie Energie-dispersive Röntgen (EDX), Reflektometrie und Signalverarbeitung durchzuführen. Es kann auch quantitative Messungen von winzigen Merkmalen wie Korngrenzen, Korngrößenverteilungen und analysieren elementare Zusammensetzung, chemische Zusammensetzung und Topographie. S-4160 hat einen maximalen Arbeitsabstand von 15 mm und eine Elektronenstrahlenergieauflösung von 0,2 bis 2keV. Ein Bild kann von 85 nm bis 30 µm groß sein, wobei das Gerät eine Auflösung von 12.000 Pixel pro mm erzeugt. Es hat auch eine schnelle Reaktionszeit, mit bis zu 8 Bildern/sec in stig und bis zu 200 Bildern/sec im SE-Modus. Das Gerät profitiert auch von geringer Drift sowohl in der Stigmator und Fokus-Steuerelemente, mit stigmator ein/aus Zeiten unter 0.25s. Das Gerät verfügt über zahlreiche Benutzeroptionen zur Optimierung sowohl der Bildgebungs- als auch der Analyseprozesse, wobei multisegmentierte Strom- und Spannungsverschiebungen deutliche Vorteile gegenüber herkömmlichen SEMs bieten. S 4160 enthält auch ein vielseitiges Merkmalsset für die Elementaranalyse, wobei das Gerät in der Lage ist, die verschiedenen Elemente in Proben genau abzubilden. Mit einem energiedispersiven Röntgendetektor erzeugt HITACHI S-4160 Detektion bei bis zu 15.000 Zählern/sec, was hilfreich ist, um die Verteilung und Konzentration verschiedener Elemente auf einer Probe zu bestimmen. Für die kompositorische Analyse bietet das Gerät präzise Messungen dank automatisiertem Silizium-Drift-Detektor und Röntgenquellen-Liftoff-Steuerungen. Abschließend ist HITACHI S 4160 Scanning Electron Microscope ein fortschrittliches Bildgebungs- und Analysesystem, das durch den Einsatz modernster Technologie ermöglicht wird. Seine überlegene Empfindlichkeit und Auflösung bieten beispiellose Bildgebung, während seine erweiterten Analysefähigkeiten, einschließlich elementarer und kompositorischer Analysen, es die ideale Lösung für Forschung und wissenschaftliche Anwendungen machen.