Gebraucht HITACHI S-4160 #293586847 zu verkaufen

HITACHI S-4160 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Forschung und in industriellen Anwendungen eingesetzt wird. Dieses SEM enthält einen hochempfindlichen Elektronendetektor, der Anwendern höherauflösende Bilder und ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis bietet. Das Instrument ist zudem mit einer automatisierten Bildnahtsoftware ausgestattet, die es Forschern ermöglicht, ein homogenes Bild aus zahlreichen Bildern mit geringer Vergrößerung zusammenzustellen. HITACHI S 4160 ist mit einem analytischen SE-Detektor ausgestattet, der neben anderen Signalen wie rückgestreuten Elektronen und charakteristischen Röntgenstrahlen die Erfassung von Sekundärelektronen ermöglicht. Dieser Detektor ist empfindlich gegenüber hochenergetischen Elektronen, die die Aufnahme von Bildern mit Auflösungen von besser als 3 nm bei niedrigen Beschleunigungsspannungen ermöglichen. Die EDS-Systeme für S-4160 ermöglichen den Nachweis und die Quantifizierung der elementaren Zusammensetzung in der betrachteten Probe. Es ist in der Lage, Elemente von Bor bis Uran mit einer räumlichen Auflösung von 1 μ m zu messen. Dieses Elektronenmikroskop ist in der Lage, Auflösungen bis zu 4 nm im Backscattered Electron (BSE) Modus zu erreichen und verfügt über eine umfassende Palette von Vergrößerungen von bis zu x400.000. So kann das Instrument Bilder mit voller Klarheit und Detailtreue aufnehmen. Das Mikroskop ist auch in der Lage, verschiedene Signale wie Sekundärelektronen und rückgestreute Elektronen zu sammeln, mit denen die topographische und elementare Information der betrachteten Probe berechnet werden kann. S 4160 ist auch mit einer energiedispersiven Röntgenanalyse-Spektroskopie (EDX) ausgestattet, die eine elementare Analyse der Probe mit einer zusätzlichen Auflösung von 1 μ m ermöglicht. Dieses EDX-System ist mit einer Vielzahl von Detektoren kompatibel, die einen erhöhten Nachweis von Elementen im Bereich von Bor bis Uran ermöglichen. Das Mikroskop ist auch in der Lage, Bilder mit niedrigem kV-Betrieb zu erzeugen, was den negativen Effekt der Aufladung auf die betrachtete Probe reduziert. Insbesondere können die Proben auf niedrigem Niveau geladen werden, wodurch eine höhere Bildgenauigkeit gewährleistet ist. Darüber hinaus ist HITACHI S-4160 mit einer Hochleistungsstufe ausgestattet, die eine einfache Betrachtung größerer Probengrößen ermöglicht. Dies ist besonders nützlich für große Proben, wie sie in industriellen Anwendungen vorkommen. Darüber hinaus kann die Stufe leicht in horizontaler und vertikaler Richtung eingestellt werden, was eine präzise Probenplatzierung ermöglicht. HITACHI S 4160 ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sowohl für Forschung als auch für industrielle Anwendungen geeignet ist. Dieses SEM wird mit einem hochempfindlichen Elektronendetektor, einer automatisierten bildgebenden Nähsoftware, einer energiedispersiven Röntgenanalyse-Spektroskopie und einer Hochleistungsstufe geliefert, die eine einfache Betrachtung größerer Probengrößen ermöglicht. Das Instrument ist in der Lage, Auflösungen bis zu 4 nm und Vergrößerungen von bis zu x400.000, so dass Benutzer mit hochauflösenden Bildern mit verbesserten Signal-Rausch-Verhältnissen.