Gebraucht HITACHI S-4160 #293625350 zu verkaufen

HITACHI S-4160
ID: 293625350
Wafergröße: 6"
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 6".
HITACHI S-4160 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das einen hochauflösenden und hohen Durchsatz für bildgebende Proben kombiniert. Es ist mit einer Feldemissionselektronenkanone ausgestattet, die ausgezeichnete Niedrigpegelsignale und Langzeitstabilität bietet, mit einem hohen Durchsatz von 20.000 Bildern/Sekunde, so dass es für die Abbildung von großflächigen und detaillierten Aufnahmen geeignet ist. Der starke Elektronenstrahl ermöglicht eine endliche Punktgröße und hohe Sondierungsgeschwindigkeit für eine verbesserte Auflösung und beschleunigte Bildgebung. HITACHI S 4160 verwendet eine hochmoderne Vergrößerungssteuerung, die eine breite Palette von Vergrößerungsstufen und eine einzigartige indizierte Objektivlinse ermöglicht, die eine optimale Auflösung der zu beobachtenden Probe ermöglicht. Dieses System verfügt auch über eine verbesserte Energiefiltereinheit, die Bildmessungen von dickeren Proben ermöglicht und gleichzeitig die Klarheit des Bildes erhöht. S-4160 ist mit einem CoolView-Gerät ausgestattet, das die Umgebung der Maschine überwacht und den Betrieb entsprechend anpasst und gleichzeitig die aktuellen Beobachtungsbedingungen anzeigt. Der CoolView hilft auch, die Resonanzauflösung zu verbessern, um Umweltrisiken im Zusammenhang mit Bildgebung bei rauen und extremen Temperaturen zu reduzieren. S 4160 kommt auch mit einer optionalen sekundären Elektronenbildmaschine, die für die Abbildung von Oberflächeneigenschaften verwendet werden kann, um Benetzbarkeit, Kontrast, Verglasung oder Verfärbung der Probe zu messen. Dieses Werkzeug kann auch verwendet werden, um Oberflächeneigenschaften zu visualisieren und die Oberfläche von technischen Materialien genau zu bestimmen. HITACHI S-4160 ist eine umfassende bildgebende Komponente, die ein hervorragendes Werkzeug zur Bewertung der Eigenschaften und Eigenschaften von Materialien und Komponenten ist. Es bietet einen hochpräzisen Scankontrollprozess von bis zu 35.000 Bildern/Sekunde, um eine breite Palette von Materialanalysen zu unterstützen. Darüber hinaus haben die von HITACHI S 4160 aufgenommenen Bilder eine extrem hohe Auflösung, die eine präzise und genaue Analyse ermöglicht. Dieses leistungsstarke SEM-Modell eignet sich hervorragend für hochauflösende Bildgebung und anspruchsvolle Analysebedürfnisse unterschiedlichster Materialien und Komponenten. Seine fortschrittliche Technologie, ausgefeilte Bedienelemente und intuitive Software machen es zu einem ausgezeichneten Werkzeug für die Erforschung und Analyse einer breiten Palette von Materialien, von industriellen bis hin zu Nanokomponenten.
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