Gebraucht HITACHI S-4160 #293637746 zu verkaufen
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ID: 293637746
Scanning Electron Microscope (SEM)
Motorised stage: 150 mm x 150 mm
Max specimen size: ø8".
HITACHI S-4160 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Mikroskopie- und Analysebedürfnissen entwickelt wurde. Es verfügt über eine überlegene Bildgebungs- und Analysefähigkeit, die eine unübertroffene Individualität der Bilder, Genauigkeit und hohe Auflösung bietet. Das SEM ist mit einem fortschrittlichen kristallinen Linsensystem ausgestattet, das es dem Benutzer ermöglicht, qualitativ hochwertige Bilder von Proben bei hoher Vergrößerung sowohl im optischen als auch im Abtastmodus schnell zu erfassen und zu vergrößern. Das einzigartige Leistungsspektrum von HITACHI S 4160 ermöglicht es dem Benutzer, schnell zwischen optischen und Scanmodi zu wechseln und gleichzeitig eine perfekte Bildausrichtung und Genauigkeit zu gewährleisten. S-4160 verwendet eine Elektronensäule mit einem LaB6 Filament, das in der Lage ist, Elektronen mit einem Beschleunigungspotential bis zu 30KV zu erzeugen. Dieser leistungsstarke Elektronenstrahl ermöglicht eine höhere Bildauflösung und vergrößerte analytische Fähigkeiten. Darüber hinaus ermöglicht der FIGARO-Analysator eine präzisere Analyse mit einer räumlichen Auflösung von bis zu 10 Nanometern. Das fortschrittliche Röntgenbildgebungssystem ermöglicht die gleichzeitige Erfassung und Analyse der Röntgenemission von Proben. Die hohe Empfindlichkeit von S 4160 hilft, kleinste Partikel mit hoher Genauigkeit zu bestimmen. Mit seinem fortschrittlichsten ionensensitiven Detektor ist das SEM in der Lage, sekundäre Elektronenbilder mit beispielloser Auflösungsleistung jenseits der 60.000x zu erzielen. Das SEM bietet einen breiten dynamischen Bereich von der Keimbildung bis zur Kristallisation und kann das Verständnis des Materialverhaltens über mehrere Längenskalen von Nanometern bis Mikrometern unterstützen. Das benutzerfreundliche Betriebssystem bietet Zugriff auf eine breite Palette von Funktionen zur Unterstützung der Benutzerproduktivität, einschließlich Anmerkungen auf dem Bildschirm, Bildverarbeitung und -korrektur sowie 3D-Visualisierung in Echtzeit. HITACHI S-4160 bietet ein Maß an Flexibilität und Kontrolle, das unter SEMs konkurrenzlos ist. Die leistungsstarke Kombination von Funktionen, einschließlich überlegener Bildgebungsfähigkeit und Genauigkeit, hoher Auflösung, großer Dynamikbereich und Vielseitigkeit, machen es zur idealen Wahl für die Materialforschung.
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