Gebraucht HITACHI S-4160 #9047792 zu verkaufen

HITACHI S-4160
ID: 9047792
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1996
Scanning Electron Microscope (SEM), 8" Metro system 1996 vintage.
HITACHI S-4160 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das kleine Objekte mit exquisiten Details visualisieren soll. Dieses Mikroskop bietet eine umfassende Suite von bildgebenden Funktionen, so dass Forscher große oder kleine Proben mit größerer Genauigkeit ansehen können. HITACHI S 4160 ist mit einer thermischen Feldemissionselektronenkanone ausgestattet, die einen hochfokussierten und stabilen Elektronenstrahl erzeugt. Die Pistole ist in der Lage, eine breite Palette von Vergrößerungen, von 30x bis 2000x. Eine On-Axis-Kathodenlinse und eine Energiefiltereinrichtung erleichtern die optimale Steuerung des Durchmessers des Elektronenstrahls. S-4160 verfügt über eine Probenkammer mit einem Weidewinkeldetektor zur maximalen Signalerfassung und Zusatzflexibilität. Es ist auch mit fortschrittlicher Bildverarbeitungssoftware für eine einfache Probenanalyse integriert. Dieses Mikroskop verfügt über ein digitales Abbildungssystem mit dreilagiger, programmierbarer Drehsteuerung zur optimalen Betrachtung. Darüber hinaus verfügt S 4160 über eine optionale sekundäre Elektronenkanone zur Abbildung empfindlicher Proben. Es ist kompatibel mit verschiedenen Probenhaltern, einschließlich der Cold Field Emission (CFE), für Niedervakuumstudien. Es bietet auch ein dreidimensionales Bewegungserkennungssystem und einen Verfahrbereich von 5,6 mm entlang der x- und y-Achse. Um die sensible Detektion und Analyse von Proben zu erleichtern, ist HITACHI S-4160 in der Lage, mehrere Kontrastbilder zu erzeugen, einschließlich Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen, Kathodolumineszenz und Winkel. Je nach Bedarf des Benutzers können zusätzliche Detektoroptionen wie der ultrahochauflösende Sekundärelektronendetektor zur Verfügung stehen. Dieses SEM ist einfach zu bedienen und bietet eine Vielzahl von Funktionen, um die Effizienz und Genauigkeit zu verbessern. Es verfügt über ein energiedispersives Röntgenspektralabbildungssystem, das elementare Zusammensetzung automatisch detektiert und detektiert, während eine automatisierte Stufe selektionsfreie Bildgebung bietet. Ein integriertes Auto-Alignment-Modul ermöglicht auch eine einfachere, automatisierte Einrichtung von Vakuumstufen. Insgesamt ist HITACHI S 4160 ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das überlegene Möglichkeiten zur Visualisierung kleiner Objekte mit unglaublichen Details bietet. Seine erweiterten bildgebenden Funktionen und seine einfache Bedienung machen es zu einem idealen Werkzeug für Forscher, die hochauflösende Bilder für eine detaillierte Analyse benötigen.
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