Gebraucht HITACHI S-4160 #9048202 zu verkaufen
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ID: 9048202
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1996
Scanning Electron Microscope (SEM), 8"
Metro system
1996 vintage.
HITACHI S-4160 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein High-Tech-Bildgebungswerkzeug, das verwendet wird, um extrem detaillierte und präzise Bilder der mikroskopischen Strukturen von Proben zu erfassen. Es ist ideal für Anwendungen in Industrie, Forschung und Lehre. HITACHI S 4160 ist mit einer LaB6 Elektronenkanone ausgestattet und verwendet einen digitalen SDD- oder SiLi-Detektor zur Röntgenerkennung. Es hat ein In-Objektiv-Objektiv und ein großes Sichtfeld, mit bis zu 200.000x Vergrößerung abhängig von der angegebenen Linse. Es hat auch eine schnelle Bildaufnahmerate, mit Bildaufnahmezeit von nur 40 Nanosekunden. S-4160 verwendet einen Kaltkathoden-Sekundärelektronendetektor (SE2) sowie unelastisch gestreute und rückgestreute Elektronendetektoren (BSE1/2). Der SE2-Detektor ermöglicht eine hochauflösende Abbildung der Oberflächentopographie der Probe, während die BSE-Detektoren eine Beobachtung der Zusammensetzung der Probe ermöglichen. Diese Unterscheidung zwischen Topographie und Zusammensetzung ermöglicht es Anwendern, neue Einblicke in die Art ihrer Probe zu gewinnen. S 4160 umfasst eine automatisierte Probenstufe, die eine präzise motorisierte Positionierung ermöglicht und eine Probenbewegung in der X-, Y- und Z-Achse ermöglicht. Dies bietet eine beispiellose Probenkontrolle und ermöglicht es, die Probe schnell und präzise zwischen verschiedenen Positionen zu bewegen. HITACHI S-4160 verfügt auch über ein Universal Grobvakuum System (UCVS), das eine verbesserte Vakuumregelung ermöglicht, was zu einem verbesserten Betrieb führt. HITACHI S 4160 verfügt über eine Vielzahl von bildgebenden Funktionen. Es kann hochauflösende Bilder mit einem Elektronenstrahl von so niedrig wie 5nm in der Größe, sowie Low-Vakuum-Bildgebung, die Benutzer die Möglichkeit, Bild in Niedervakuum-Umgebungen. Es verfügt auch über bildgebende Funktionen mit variablem Winkel, wodurch Benutzer die Probe in einem Winkel von bis zu 45 ° neigen können, um Bilder aus einer anderen Sicht zu erfassen. Insgesamt ist S-4160 SEM ein leistungsfähiges und vielseitiges Bildgebungswerkzeug, das extrem detaillierte Bilder von mikroskopischen Objekten liefern kann. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen wie automatisierte motorisierte Probenbewegung, Bildgebung mit variablem Winkel und hochauflösende Bildgebung ist S 4160 ein wesentliches Werkzeug für eine Vielzahl von industriellen, Forschungs- und Lehranwendungen.
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