Gebraucht HITACHI S-4160 #9200118 zu verkaufen

HITACHI S-4160 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das durch Rasterscannen eines fokussierten geladenen Teilchenstrahls über eine Probenoberfläche und Sammeln der resultierenden Sekundärelektronen, rückgestreuten Elektronen und Röntgenstrahlen arbeitet, um ein Bild zu erzeugen. Es bietet eine hohe Auflösung - bis unter 0,2-Nanometer-Niveau - mit optimalen und langlebigen Bildern. Dieses SEM ist auch extrem einfach zu bedienen; Anwender können es mit nur vier Knöpfen und Schaltern bedienen, so dass es für eine breite Palette von wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen geeignet ist. HITACHI S 4160 ist mit einem sphärischen Aberrationskorrektorsystem und einem hochauflösenden Objektiv ausgestattet, um eine genaue Bildgebung bei sehr hohen Vergrößerungen bis zu 1000.000x zu gewährleisten. Es verfügt auch über eine Feldemissionselektronenkanone (FEG), die einen gut kollimierten und hochintensiven Elektronenstrahl mit niedriger chromatischer Abberation und hoher Stabilität liefert. Die FEG trägt weiter zur hohen Bildqualität bei, indem sie die Ausrichtungs- und Wartungszeit verringert. Das Tilt-Align System in S-4160 soll die Ausrichtung der Achsen der Probe und der Objektivlinse erleichtern. Dies ermöglicht genaue Winkeländerungen zwischen Probe und Elektronenstrahl für Kippaktivitäten. Kombiniert mit dem Dual-Achsen-Auto-Feature kann der Anwender Mikrostrukturen in verschiedenen Orientierungen ohne manuelle Anpassung beobachten. Wie bei der Bildanalyse ist S 4160 mit dem einzigartigen 3D-Bildgebungsmodus ausgestattet, der eine gleichzeitige Messung und Anzeige von drei Richtungen in einem 3D-Bild ermöglicht. HITACHI S-4160 verfügt auch über eine breite Palette von Bildanalysefunktionen, darunter automatisierte Bildmessung, PDF-Ausgabe, automatisierte Wertberechnung und Bildaufteilung. So können Anwender die komplexesten Proben genau und bequem analysieren. HITACHI S 4160 verfügt über eine Standard-Autostufe, eine digitalisierte Probenstufe und eine automatische Sandstrahlfunktion. Die automatische Stufe soll die Bedienung und Beobachtung von Proben durch automatische Steuerung der Positionseinstellungen und der Probendrehung erleichtern. Die digitalisierte Probenstufe ermöglicht es Benutzern, sechs verschiedene Exemplare ohne manuelle Anpassung zu beobachten. Die automatische Sandstrahlfunktion ermöglicht eine genaue Probenvorbereitung ohne Beschädigung von Proben. Insgesamt ist S-4160 ein leistungsstarkes und einfach zu bedienendes Rasterelektronenmikroskop, das sich für fortgeschrittene Analysen in den unterschiedlichsten Bereichen eignet. Seine erweiterten Bildgebungs-, Bildanalyse- und Bühnenfunktionen machen es zu einer idealen Wahl für viele Anwendungen.