Gebraucht HITACHI S-4160 #9261877 zu verkaufen

HITACHI S-4160 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit hoher Auflösung. Es ist mit einem energiedispersiven Röntgenmikroanalysesystem (EDX) und einem Elektronen-Backscatter-Beugungssystem (EBSD) ausgestattet, um Informationen über Mineralien, Elemente und andere Materialien zu erfassen. HITACHI S 4160 verfügt über eine Mikroskopsäule, die in der Lage ist, hochauflösende Bilder mit großer Schärfentiefe und breitem Scanbereich zu erzeugen. Das SEM hat einen Vergrößerungsbereich von 50x-160.000x mit einer Auflösung von 15 nm und einem Sichtfeld von bis zu 3,4 mm. Es ist in der Lage, sowohl kontrastreiche als auch kontrastarme Bilder zu erzeugen. S-4160 verfügt über einen EDS-Detektor mit Funktionen zur Elementabbildung, Partikelgrößenanalyse, Zusammensetzungsanalyse und quantitativen Elementanalyse. Das EBSD-System ist benutzerfreundlich und liefert Daten zur Bestimmung der Mineralphase. S 4160 verfügt über eine nanoskalige Probenoberflächenbeobachtungsstufe, die es Anwendern ermöglicht, die Oberfläche extrem kleiner Proben zu beobachten. Es verfügt auch über eine Automatisierungsbank, mit der Benutzer Probenbewegungen zum Scannen programmieren können. Die Automatisierungsbank ist so programmiert, dass sie die Bühne schnell und präzise bewegt und einen hohen Durchsatz an Probenbeobachtungen ermöglicht. Das Mikroskop hat auch einen eingebauten Stoßdämpfer, um Vibrationen und Geräusche bei Beobachtungen zu reduzieren. Insgesamt ist HITACHI S-4160 ein leistungsstarkes, vielseitiges SEM mit geringen Betriebskosten. Mit seinen einzigartigen Eigenschaften ist es ideal für die Abbildung von Mineralien und anderen Materialanalysen. Es bietet hochauflösende Bildgebung mit einer Reihe von Vergrößerungen und eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Forschung und industrielle Einstellungen. Mit seiner Kombination von Eigenschaften ist HITACHI S 4160 ein effektives Werkzeug zur Oberflächenbeobachtung und -analyse.