Gebraucht HITACHI S-4160 #9389833 zu verkaufen

HITACHI S-4160 ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für den Einsatz in der Materialwissenschaft, Oberflächenanalyse und nanoskaligen Bildgebung. Es ist ideal für Anwendungen wie Mikrostrukturanalyse von Halbleitern, optische Integration, Biowissenschaften und Nanotechnologie. HITACHI S 4160 basiert auf dem neuen elektronenoptischen System, das eine hochgeladene Teilchenquelle nutzt, um einen Elektronenstrahl mit hoher Stromdichte zu erzeugen. Dieser Strahl wird dann mit elektrostatischen und magnetischen Linsen auf eine sehr kleine Punktgröße fokussiert. Dieser Strahl wird dann über die Probe gescannt, um ein Bild zu erzeugen. S-4160 ist mit einer digitalen Kamera und einem Bildwiedergabesystem sowie einem ausgeklügelten Softwarepaket zur Bildanalyse ausgestattet. Es hat auch eine Vielzahl von automatisierten Funktionen für die Probenvorbereitung, wie Auto-Fokussierung und Backscatter-Bildgebung. Darüber hinaus verfügt die Einbaustufe über ein hochpräzises Auto-Tracking-System, das die Ausrichtung und Bewegung von Objekten einfacher und präziser macht. S 4160 bietet eine Vielzahl von Funktionen für nanoskalige Bildgebung, einschließlich ultrathin nanowire and nanorod imaging, surface imaging, microchanneling, microfluid imaging, 3D imaging und Partikelanalyse. Es bietet auch eine hohe Auflösung von bis zu 5,5 nm und einen Vergrößerungsbereich von 5X-100KX. Weitere Merkmale sind eine Niedervakuumkammer und ein Doppelenergiedetektor sowie eine Wolframfadenquelle und eine variable Waffenspannung zur weiteren Optimierung der Probenbildgebung. Dieses SEM verfügt außerdem über einen benutzerfreundlichen digitalen Touchscreen und eine On-Axis-Ansicht zur Verbesserung der Benutzerfreundlichkeit. Abschließend ist HITACHI S-4160 ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das Anwendern nanoskalige Bildgebung, vielseitige Funktionen und hochauflösende Ergebnisse bieten kann. Es ist perfekt für eine Vielzahl von Anwendungen wie Halbleiter- und optische Mikrostrukturanalyse, Oberflächenbildgebung, Partikelanalyse und vieles mehr.