Gebraucht HITACHI S-4200 #9288014 zu verkaufen

HITACHI S-4200 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Analyse unterschiedlichster Materialien konzipiert ist, insbesondere solcher mit kleinen Strukturen und dicht gepackten Merkmalen. Dieses SEM ist mit einer hochauflösenden, vergrößerten bildgebenden Ausrüstung ausgestattet, die Objekte bis zu 400.000x vergrößern kann, mit einer bildgebenden Auflösung von 1,2 Nanometern. HITACHI S 4200 kombiniert ein leistungsstarkes Elektronenoptik- und Detektionssystem und eine Vielzahl kompatibler Probenstufen. Die breite Palette der für S-4200 verfügbaren Probenstufen ermöglicht die Analyse unterschiedlichster Probentypen - darunter Halbleiterproben, nanoskalige Objekte, biologische Zellen und Materialfraktionen. Für die Abbildung von Proben verfügt S 4200 über einen Sekundärelektronendetektor, einen rückgestreuten Elektronendetektor und eine optionale Röntgenenergiedispersive Detektoreinheit. Der Sekundärelektronendetektor von HITACHI S-4200 ermöglicht die gleichzeitige Erfassung vergrößerter Sekundärelektronenbilder mit einer Auflösung von bis zu 1,2 Nanometern. Der Sekundärelektronendetektor kann auch zur automatisierten SEM-Bildgebung mit dem automatischen Fokusmerkmal verwendet werden. Der rückgestreute Elektronendetektor von HITACHI S 4200 ermöglicht Oberflächenzusammensetzungsanalysen bei niedrigen Vergrößerungen mit einer Auflösung von 10 Nanometern. S-4200 verfügt über eine einzigartige Auto-Sampling-Funktion, die die Probe automatisch zwischen den mehreren Probenhaltern für maximalen Komfort und Komfort bewegt. Die automatische Probenahme erhöht die Effizienz von Labortests und spart gleichzeitig Zeit und reduziert menschliches Versagen. S 4200 bietet außerdem ein optionales Nano-Sonden-Spektroskopiemodul, mit dem der Benutzer die Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) einer Probe in hoher Präzision abbilden kann. HITACHI S-4200 ermöglicht auch fokussiertes Ionenstrahlfräsen (FIB), eine Technik, die ein ideales Mittel zum Sammeln von Proben bietet, die effizient und minimal invasiv in die Probe ist. HITACHI S 4200 ist auch mit mehreren Softwaresystemen von HITACHI wie 3DViewer, 3DReconstruction und Material Analysis Machine (MAS) ausgestattet. Diese Softwarepakete bieten eine Vielzahl von Funktionen für die Analyse von Proben, einschließlich 3D-Bildgebungsfunktionen, Kontrastverbesserungen, automatisierte Bildnähte und viele andere Funktionen. Insgesamt ist S-4200 ein unglaublich leistungsfähiges und vielseitiges SEM, das für eine Vielzahl von wissenschaftlichen Forschungs- und Industrieanwendungen eingesetzt werden kann. Seine Fähigkeiten bieten einen beispiellosen Einblick in die mikroskopische Welt und ermöglichen es Wissenschaftlern und Ingenieuren, das physikalische Universum in beispiellosen Details zu erforschen und zu verstehen.