Gebraucht HITACHI S-4200 #9288534 zu verkaufen

HITACHI S-4200 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochpräzises Instrument, das es Anwendern ermöglicht, komplexe Strukturen von festen Objekten zu beobachten, einschließlich der Bildanalyse einer Vielzahl von Materialien, von organischen Molekülen bis hin zu anorganischen Kristallen. Dieses Mikroskop verwendet einen Rasterelektronenstrahl, der plötzlich von einem elektrischen Feld oder Magnetfeld abgelenkt wird. Dadurch wird ein Elektronenenergiestrahl erzeugt, der von einem lichtempfindlichen Detektor auf der Rückseite des Mikroskops detektiert werden kann. Die erzeugten Daten werden dann analysiert und als hochdetailliertes, dreidimensionales Bild dargestellt. Das Modell HITACHI S 4200 ist ein besonders hochauflösendes Modell und verwendet einen Elektronensondendurchmesser von bis zu 2 nm. Er hat eine maximale Beschleunigungsspannung von 20 kV. Dadurch wird der Elektronenstrahl auf eine so hohe Geschwindigkeit beschleunigt, daß auch kleinste Strukturen einer Probe detektiert werden können. Zusätzlich erhöht dies den Bildkontrast und die Fokustiefe. Die Hauptkomponenten des Mikroskops sind Elektronensäule, Objektiv, optisches Linsensystem und Bewegungsstufe. Die Elektronensäule besteht aus Elektronenkanone, Blende und Kollektorlinsen. Die Objektivlinse ist die primäre Quelle für elektrostatische und magnetische Linsen, die den Elektronenstrahl auf die Probe fokussieren. Das optische Linsensystem hilft bei der Abbildung der Probe durch optische Vergrößerung der SEM-Bilder. Die Bewegungsstufe erleichtert die Bewegung der Probe zur präzisen Abtastung. S-4200 SEM ist mit einer Reihe von Merkmalen ausgestattet, die den Betrieb des Mikroskops verbessern. Dazu gehört die Auto-Adjust-Funktion, die eine optimale Auflösung für verschiedene Samples gewährleistet. Es enthält auch ein EDS-System, das eine chemische Analyse der Probe mittels rückgestreuter Elektronenbilder und energiedispersiver Spektroskopie ermöglicht. Zusätzlich kompensiert die Bewegungsstufe die durch die magnetischen und elektrostatischen Felder innerhalb der Probe verursachte Untersuchungsfeldverschiebung. Dies bietet beispiellose Präzision für eine genaue Analyse der Probe. Kurz gesagt, S 4200 Scanning Electron Microscope ist ein unglaublich vielseitiges und präzises Werkzeug, um sowohl organische als auch anorganische Proben zu untersuchen. Seine erweiterten Funktionen ermöglichen es Forschern, die feinsten Merkmale einer Probe in atemberaubenden dreidimensionalen Details zu beobachten.