Gebraucht HITACHI S-4200 #9313769 zu verkaufen

HITACHI S-4200 Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsstarkes Instrument zur präzisen Messung einer Vielzahl von Proben. HITACHI S 4200 verfügt über eine Reihe von Funktionen, die es Forschern ermöglichen, mit einer Vielzahl von Probenmaterialien zu arbeiten und detaillierte Einblicke in ihre Mikrostrukturen zu erhalten. S-4200 Rasterelektronenmikroskop bietet einen Beobachtungsbereich von 5nm bis 500mm und ist somit ideal für die Untersuchung von nanoskaligen Merkmalen und größeren Objekten. S 4200 bietet zudem ein einzigartiges Bildgebungssystem, mit dem Benutzer unglaublich detaillierte Bilder und 3D-Beobachtungen erfassen können. Mit einer maximalen Auflösung von 60nm und einer maximalen Vergrößerung von 250,000X sind Bilder, die mit HITACHI- S-4200 aufgenommen werden, eine unglaublich hohe Auflösung. HITACHI S 4200 ist mit doppelten, flüssig-stickstoffgekühlten Elektronenkanonen ausgestattet, die eine breite Palette von elektronenbeschleunigten Potentialen bieten, von 0.8kV bis 40kV. Diese leistungsstarke Beschleunigung ermöglicht eine breite Palette von Anwendungen wie Elementarzuordnung, Röntgenanalyse und Bildverbesserung. S-4200 bietet auch eine Reihe von Zubehör, das verwendet werden kann, um die Leistung des Mikroskops zu steuern und zu optimieren. Beispielsweise ist die Dauerlevitor-Sonde so konzipiert, dass sie stabile, wiederholbare Messungen von Oberflächenmerkmalen ermöglicht, wodurch extrem kleine Merkmale präzise gemessen werden können. Der SILeWave-Monochromator ermöglicht es Forschern, einen größeren Kontrast zu erzielen, wenn sie feine Details innerhalb der Probe identifizieren müssen. S 4200 kann auch an optische Geräte wie das TESCAN Röntgenmikroskop und digitale Bildgebungssysteme angeschlossen werden. Dadurch kann der Anwender optische und elektronische Bildgebung für verbesserten Kontrast und Auflösung kombinieren. Durch die Verwendung einer Reihe von einstellbaren Parametern können HITACHI- S-4200 entsprechend den Zielen des Benutzers optimiert werden. Es kann verwendet werden, um detaillierte Bilder von mikroskopischen Objekten mit einer hohen Genauigkeit zu erhalten, so dass Forscher ihr Verständnis für sie fördern können.